X-衍射儀是一種用於物理學、地球科學領域的分析儀器,於2005年10月8日啟用。
基本介紹
- 中文名:X-衍射儀
- 產地:德國
- 學科領域:物理學、地球科學
- 啟用日期:2005年10月8日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
X-衍射儀是一種用於物理學、地球科學領域的分析儀器,於2005年10月8日啟用。
X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer)。本儀器分析的對象是一粒單晶體,如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線(如Cu的Kα輻射)射到一粒單晶體上會發生衍射,由對衍射線的分析...
X衍射分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2002年11月1日啟用。技術指標 測角儀精度0.0001°,角度重現性0.0001°,角範圍0-167°,測角儀半徑240mm。主要功能 X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質的晶體結構,織構及...
多功能X射線衍射儀設計精巧、結構緊湊,是一款高精度、高速測角儀。技術參數 多功能的X射線衍射儀 C機控制的原位微處理器,得到超高穩定性的X射線發生器 帶有可旋轉管的管罩,可以使用點焦點或焦點 聚焦Kα1單色器可以得到高強度和高...
X射線晶體衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2006年3月8日啟用。技術指標 功率:3kW; 測角儀重現性:0.0001度;設備尺寸:1975×1132×1371mm(H×D×W)。主要功能 材料結構相關多方面的分析和多晶樣品的物相分析、晶粒尺寸...
X-ray單晶衍射儀 X-ray單晶衍射儀是一種用於物理學、化學、生物學、藥學領域的分析儀器,於2016年4月22日啟用。技術指標 單鉬靶,低溫。主要功能 結構測定。
X-射線粉沫衍射儀 X-射線粉沫衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2003年5月20日啟用。技術指標 低溫最低至30K,高溫最高到1300K。主要功能 測衍射譜,樣品物相分析。
低角度X射線衍射儀是一種用於物理學、化學領域的分析儀器,於2016年6月28日啟用。技術指標 本儀器的測試角度範圍為0.6°—10°。主要功能 進行物相分析、取向分析、晶粒大小和微觀應力的測定、巨觀應力的測定及點陣參數的精密測定等方面...
高溫X衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2003年11月5日啟用。技術指標 1、陶瓷X光管:最大功率:2.2kW(Cu靶)2、測角儀重現性:0.0001度3、2θ測量範圍:0--167o,測量精度:2θ±0.01o3、可控最小步進:0.0001度...
XRD衍射儀是一種用於化學工程、化學、中醫學與中藥學、生物學領域的分析儀器。技術指標 X射線發生器,最大功率3KW,最大管電壓60HV,電流80mA,垂直型測角儀,掃描範圍:-6°~163°(2θ), -180°~180°(θ),掃描速度:0.1~50...
X射線衍射儀201501 X射線衍射儀201501是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年11月30日啟用。技術指標 子探測器個數:>256個 像素大小: 主要功能 非金屬材料微觀物相分析。
小分子X-射線單晶衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2007年8月15日啟用。技術指標 高壓發生器:最大輸出功率 3.0 kW,Enhance(Mo)和Enhance (Cu),CCD晶片 2048x2048象素,(2) 解析度 Omega和Theta圓:0.00125度 Kappa 圓...
X射線多晶體衍射儀是一種用於數學領域的分析儀器,於2016年6月24日啟用。技術指標 加速電壓≤45 kv、管流≤200 mA、功率≤9 kw。掃描範圍:2θ:2°~160°(SC)、2°~158°(D/Tex)。2θ角示值誤差:0.017°。2θ角重複性...
單晶X-射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2006年10月30日啟用。技術指標 CCD探頭無束錐,1:1耦合,光學纖維長度僅1mm,映象面積62mm×62mm,4K CCD晶片,磷光膜可同時使用於Mo和Cu靶光源,Mo、Cu光源互換簡便。主要功能 單...
全智慧型高功率X-射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2012年9月5日啟用。技術指標 1、X射線發生器功率為3KW、新型9KW轉靶 2、測角儀為水平測角儀 3、測角儀最小步進為1/10000度 4、測角儀配程式式可變狹縫 5、CBO...
多功能水平X射線衍射儀 多功能水平X射線衍射儀是一種用於地球科學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術、安全科學技術領域的分析儀器,於2014年10月31日啟用。技術指標 3kW X-ray generator。主要功能 礦物鑑定。
X射線薄膜衍射儀 X射線薄膜衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2004年12月16日啟用。技術指標 角度範圍2Theta -5o~160o,角度解析度0.001o;薄膜樣品台。主要功能 分析材料的物質組成以及能級結構。
廣角X射線衍射儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器。技術指標 1.1 適用溫度:-40℃~+50℃,適用濕度:小於等於90%。1.2 適於電源220V(10%)/50Hz。2. 設備用途: 可對進行物相檢索分析、物相定量及無標定量分析...
X射線衍射儀D8是一種用於林學領域的分析儀器,於2013年9月28日啟用。技術指標 1. X射線光源 1.1. X射線發生器部分 *1.1.1 最大輸出功率:3kW 1.1.2 額定電壓:60kV *1.1.3 額定電流:80mA 1.2 X射線光管部分 1.2.1...
多晶X衍射儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2005年01月11日啟用。技術指標 最大輸出功率:18kW;最大管電壓:60kV;最大管電流:450mA;測角圓半徑:270mm;索拉狹縫:2.5mm;入射狹縫及防發散狹縫:0.01-...
島津X射線衍射儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2014年03月31日啟用。技術指標 運轉(1000°/min),精度角度(±0.0001°);。主要功能 精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量...
15-X射線衍射儀 15-X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年12月29日啟用。技術指標 X射線發生器最大輸出功率 3KW,最大管壓60kV,最大管流60mA,5軸樣品台。主要功能 薄膜電子材料的定性分析、取向分析。
台式X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2018年10月17日啟用。技術指標 PHA視窗寬度10-20div,Si粉末標準樣品的(220),(511),(620)面的衍射峰角度為Si(220)=47.263±0.1°,Si(511)=94.911±0.1°和Si(620)...
小角散射X射線衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於1994年1月10日啟用。技術指標 轉靶12 kW;Cu靶 Ka1,波長0.15405 nm;角度解析度0.01°。主要功能 基於多晶粉末X射線衍射測定材料的晶體結構。
單晶X衍射儀是一種用於信息科學與系統科學領域的分析儀器,於2011年10月1日啟用。技術指標 1、大面積圓筒IP探測器 2、高功率轉靶 3、雙靶合一(Cu靶、Mo靶) 4、自動制氮冷卻系統 5、四圓Kappa測角儀。主要功能 主要測試和研究...
粉末X-射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2003年12月1日啟用。技術指標 功率2/3kW; 穩定度≤0.005%,最快定位速度:1000˚/min,角度重現性:0.0001˚,最小步長:0.002˚(θ),閃爍計數器線性範圍:2 x 10^6...
高功率X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年12月21日啟用。技術指標 旋轉陽極Cu靶,最大輸出功率6kW,能量色散陣列探測器(能量解析度優於380eV),高精度五軸尤拉環樣品台。主要功能 常規XRD掃描,薄膜掠入射等。