X射線多晶體衍射儀

X射線多晶體衍射儀是一種用於數學領域的分析儀器，於2016年6月24日啟用。

基本介紹

• 中文名：X射線多晶體衍射儀
• 產地：日本
• 學科領域：數學
• 啟用日期：2016年6月24日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀

技術指標

加速電壓≤45 kv、管流≤200 mA、功率≤9 kw。掃描範圍：2θ:2°～160°(SC)、2°～158°(D/Tex)。2θ角示值誤差：0.017°。2θ角重複性：0.0015°。分辨力：27。

主要功能

物相鑑定，聚合物、聚集態結構，結晶度，晶格常數等。