X射線顯微定量分析儀是一種用於材料科學、化學工程、環境科學技術及資源科學技術、安全科學技術領域的分析儀器,於2015年11月3日啟用。
基本介紹
- 中文名:X射線顯微定量分析儀
- 產地:日本
- 學科領域:材料科學、化學工程、環境科學技術及資源科學技術、安全科學技術
- 啟用日期:2015年11月3日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器
X射線顯微定量分析儀是一種用於材料科學、化學工程、環境科學技術及資源科學技術、安全科學技術領域的分析儀器,於2015年11月3日啟用。
X射線顯微定量分析儀是一種用於材料科學、化學工程、環境科學技術及資源科學技術、安全科學技術領域的分析儀器,於2015年11月3日啟用。技術指標 本體真空度:≤1.0×10-3Pa; 電子槍真空度:<3.5×10-7Pa; SE像解析度:3nm(Acc....
X射線螢光顯微分析儀 X射線螢光顯微分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2005年6月8日啟用。技術指標 分析元素Na-U,能量解析度FWHM 主要功能 材料分析,微區成分分析,光學圖像觀察,內部異物分析,圖像處理。
電子探針X射線顯微分析儀,簡稱電子探針。是指以聚焦的高速電子來激發出試樣表面組成元素的特徵X射線,並根據X射線的波長和強度,對微區成分進行定性或定量分析的一種材料物理儀器。電子探針分析的原理是以電子束轟擊試樣表面,擊出表面...
基本原理是電子束經過電子光學系統如靜電或電磁透鏡聚焦到樣品中約1平方微米的區域,樣品經電子束的轟擊,輻射出X射線;通過X射線譜儀,對待測元素X射線譜的波長和強度進行測量,逐點地定性和定量分析。通過電子掃描同步系統和電子顯示,可使...
電子探針X射線微區分析(EPMA)Electron Probe X-ray Microanalysis是用聚焦極細的電子束轟擊固體的表面,並根據微區內所發射出X射線的波長( 或能量)和強度進行定性和定量分析的方法。目錄 1 工作原理 2 特點 3 方法及套用 ▪ 定點...
角度、平行線間距、面積等,3D觀察,3D計算測試材料任意區間外觀、顯示高度、界面比較,具有與外接X射線能譜儀使用的配套軟體。主要功能 主要用於觀察材料表面的微細形貌、斷口及內部組織,並對材料表面微區成分進行定性和定量分析。
X-射線螢光分析顯微鏡是一款顯微鏡,掃描範圍為512×512μm~100×100μm。主要用途: 1.固體、液體樣品的成分、結構及成份分布 2.Na-U元素的定性及定量分析 3.可做幾種圖像:①元素分布圖;②透射X光像;③光學顯微鏡像 4.相分析...
第五章 X射線譜的測量:波長譜儀和能量譜儀 第六章 定性X射線顯微分析 第七章 定量X射線顯微分析 第八章 X射線顯微分析的實用技術 第九章 掃描電鏡和X射線顯微分析的樣品製備技術 第十章 掃描電鏡和X射線顯微分析的鍍膜技術 ...
主要的X射線分析儀器有單晶X射線衍射儀(主要用於晶體結構的確定)和多晶X射線衍射儀(又稱粉末X衍射儀,主要套用在物相分析、晶體結構分析、組構分析)。物相分析是X射線衍射在金屬中用得最多的方面,分定性分析和定量分析。前者把對材料...
6 可進行綜合分析。裝上波長色散X射線譜儀(WDX) 或能量色散X射線譜儀 (EDX) , 使具有電子探針的功能, 也能檢測樣品發出的反射電子、X射線、陰極螢光、透射電子、俄歇電子等。把掃描電鏡擴大套用到各種顯微的和微區的分析方式, 顯示...
第四章X射線衍射分析的方法第一節一般的X射線衍射分析法第二節衍射儀法第三節測定過程第五章x射線物相分析第一節定性分析第二節定量分析第三節相平衡圖的測定第四節結晶度的測定第五節擇優取向的測定...
定量螢光顯微鏡檢術 J.S.Ploem 圖像的定量分析 S.Bradbury 積分微顯像測密術 D.J.Goldstein 掃描微干涉量度學 D.J.Goldstein 掃描透射電子顯微鏡 (STEM)在生物學上的潛力 H.Y.Elder 高解析度掃描透射電子顯微術 R.E.Burge 用...
5nm(烏絲陰極),放大倍數15-250000倍,電子槍:發叉式烏絲陰極。主要功能 觀測固體試樣表面的微觀形貌;組合分析功能有:X射線顯微分析系統(即能譜儀,EDS),主要用於元素的定性和定量分析,並可分析樣品微區的化學成分等信息。
主要用途: 用於地質、冶金、電子、建材、環境科學、半導體及材料科學等樣品,可做固體樣品的微區定性和定量分析,X射線線面掃描及背散射與二次電子圖像等分析,包括: 1.元素定性和定量分析,可做礦物鑑定; 2.樣品微區的表面形態,化學...
病理電鏡診斷;生物大分子、微顆粒等超微結構觀察;納米材料的觀察等。 掃描電鏡功能: 套用於生物學、醫學、微生物學及材料樣品的表面微觀形態與結構研究,X射線能譜儀在超微結構水平上對樣品中所含的元素進行定量、定性分析。
《X射線分析結構》是2003年4月1日同濟大學出版社出版的圖書。本書主要介紹了X射線的基礎知識、分析方法以及套用領域。...