X射線分析儀

X射線分析儀

X射線分析儀是一種用於物理學、材料科學、電子與通信技術、產品套用相關工程與技術領域的特種檢測儀器,於2016年6月24日啟用。

基本介紹

  • 中文名:X射線分析儀
  • 產地:中國
  • 學科領域:物理學、材料科學、電子與通信技術、產品套用相關工程與技術
  • 啟用日期:2016年6月24日
  • 所屬類別:特種檢測儀器 > 射線檢測儀器 > 工業X光機
技術指標,主要功能,

技術指標

X射線管電壓:≥130KV X射線管電流:≥0.15mA 顯微鏡放大倍數:≥200倍(不包括數碼放大) 冷卻方式:風冷或更好 輸出器:不低於4影增 20fps配置,不低於200萬像素; 載物台:不小於550×450mm;行程分別大於X軸350mmY軸400mmZ軸400mm,載物台水平360°旋轉。 平板採集器可進行不小於70°旋轉。 泄露量:<1uSv/h 空間解析度 :≤ 5μm(標準評估板) 顯示器尺寸:不小於24英寸 輻射量在豁免範圍內,有豁免證書 配套輻射泄漏檢測裝置。

主要功能

可透視電腦板上半導體器件 可透視電腦板上功率器件 可透視電腦板上電子模組器件 可透視電腦板上貼片器件 可自動判定電腦板貼片器件焊接品質 可全形度拍攝後模擬生成被測物品3D圖形。

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