X射線晶體衍射分析儀是一種用於物理學、化學領域的分析儀器，於2011年8月31日啟用。
X射線晶體衍射分析儀是一種用於物理學、化學領域的分析儀器，於2011年8月31日啟用。技術指標 X射線晶體分析儀利用背射勞厄照相，底片安裝在晶體與射線源之間，而入射光束則在底片上的小孔通過，所記錄的為向後方向上的衍射光束，用衍射...
X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer)。本儀器分析的對象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會發生衍射，由對衍射線的分析...
X射線晶體分析儀利用背射勞厄照相，底片安裝在晶體與射線源之間，而入射光束則在底片上的小孔通過，所記錄的為向後方向上的衍射光束，用衍射光束的方向來測量未知晶體單位晶胞的的形狀和大小，以測定晶體的取向和評定晶體的完善性。用途：...
X射線衍射分析儀是一種用於物理學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2017年01月06日啟用。技術指標 1.最大輸出功率：≥2.2kW；2.X射線防護：國際安全認證，射線劑量 主要功能 1.固體樣品的物相的定性或定量分析，晶體...
X射線多晶體衍射儀是一種用於數學領域的分析儀器，於2016年6月24日啟用。技術指標 加速電壓≤45 kv、管流≤200 mA、功率≤9 kw。掃描範圍：2θ:2°～160°(SC)、2°～158°(D/Tex)。2θ角示值誤差：0.017°。2θ角重複性...
X射線晶體衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2006年3月8日啟用。技術指標 功率：3kW; 測角儀重現性：0.0001度；設備尺寸：1975×1132×1371mm(H×D×W)。主要功能 材料結構相關多方面的分析和多晶樣品的物相分析、晶粒...
對於非晶體材料，由於其結構不存在晶體結構中原子排列的長程有序，只是在幾個原子範圍記憶體在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質的晶體結構，織構及應力，精確的進行物相分析...
X射線單晶衍射儀是一種用於化學、藥學領域的分析儀器，於2009年6月25日啟用。技術指標 高解析度：映象面積62mm×62mm，4K CCD晶片，面積大容量高，象素解析度高：15µm×15µm， 高靈敏度：CCD探頭無束錐，1：1耦合，光線透過率...
閃爍計數器， 線性範圍：0-2*106CPS，資料庫含11.7萬張標準圖譜。主要功能 樣品通常為小塊金屬或粉末，又稱粉末X射線衍射儀。利用多晶樣品對X射線的衍射效應，記錄和分析X射線衍射圖譜，可以對樣品進行物相定性和定量分析。
X射線CCD單晶衍射儀 X射線CCD單晶衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2003年5月1日啟用。技術指標 晶體樣品尺寸0.1-0.5mm。主要功能 可收集單晶樣品的衍射數據。
（1） Cu靶X光管電壓≤40KV,電流≤40mA; （2） 測角儀工作方式：?/?方式； （3） 掃描範圍：0-140°； （4） 測角儀精度：0.0001°，準確度≤0.02°。主要功能 對晶體粉末樣品進行X射線衍射分析，獲取被測試樣品的晶體...
X射線單晶衍射儀的原理，是通過特定波長的X射線輻射單晶樣品，得到由於電磁波與圍繞原子的電子相互作用產生的衍射圖案。晶體內部的電子密度確定了這些衍射圖案的花樣，通過不同實驗方法，並分析實驗得到的衍射花樣，得到分子中各個原子的準確...
X衍射分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2002年11月1日啟用。技術指標 測角儀精度0.0001°，角度重現性0.0001°，角範圍0-167°，測角儀半徑240mm。主要功能 X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質的晶體結構，織構及...
高分辨x射線衍射儀可用於半導體單晶材料結構分析、應力分析以及位錯研究，對半導體GaN，AlGaN，InN以及GaN/InGaN多量子阱結構材料進行結構，晶體完整性等測試分析。高分辨x射線衍射儀可用於半導體單晶材料結構分析、應力分析以及位錯研究。
單晶X-射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2006年10月30日啟用。技術指標 CCD探頭無束錐，1：1耦合，光學纖維長度僅1mm，映象面積62mm×62mm，4K CCD晶片，磷光膜可同時使用於Mo和Cu靶光源，Mo、Cu光源互換簡便。主要功能 單...
X射線晶體定向儀利用X射線衍射原理，精密快速地測定天然和人造單晶（壓電晶體，光學晶體，雷射晶體，半導體晶體）的切割角度，與切割機配套可用於上述晶體的定向切割,是精密加工製造晶體器件不可缺少的儀器·該儀器廣泛套用於晶體材料的研究，...
多晶X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2008年7月1日啟用。技術指標 ● X射線高壓發生器：最大功率：3kW，最大電壓：60kV，最大電流：60mA ● 陶瓷X光管：Cu靶，最大功率：2.2kW, 最大電壓：60kV，最大電流：55...
儀器類別： 0303050202 /儀器儀表 /成份分析儀器 /四圓單晶X射線衍射儀 指標信息： 額定功能：18KW 額定電壓：20KV～60KV 最大額定電流：300mA IP檢出面積：466×256mm 像素尺寸：100×100μm 測角範圍：2θ=-60°～144° 附屬檔案信息...
高分辨透射X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2018年6月26日啟用。技術指標 彎晶鍺晶體單色器:提供Cu靶的純Kα1射線，無Kα2射線。 X射線光管最大功率: 2.2kW。 測角儀最小步長：0.001º；2θ角範圍：-90~+140...
單晶X射線衍射測量儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2008年1月3日啟用。技術指標 X光源：Mo陽極封閉靶光學系統：石墨單色器探測器：Mercury2CCD測角儀：AFC-Simplified固定2θ，固定X。主要功能 套用於小分子化合物單晶結構分析。
單晶射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2004年1月1日啟用。技術指標 額定功率:50kv 40mA。CCD探測器：62mm 4K CCD晶片，Mo 光源增益>170電子/X光子； X-射線發生器：功率3kW，Mo靶陶瓷X射線光管； 三軸（ω,2θ,φ）...
單晶X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2016年7月1日啟用。技術指標 使用PILATUS200K全新平面探測器；測量時，可以連續掃描，不需要關閉快門，直到數據採集完成；不像傳統的IP或CCD需要不停開閉快門；無暗電流，無噪音，可以長...
小分子單晶X射線衍射儀 小分子單晶X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2010年12月1日啟用。技術指標 最大功率600W CCD有效面積：75mm圓形。主要功能 單晶結構分析。
X射線單晶薄膜衍射儀是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器，於2012年12月1日啟用。技術指標 X光管最大功率：3kW 測量範圍/精度 Chi：-11°~98° Δ0.01°; Phi：-180°to +180°。主要功能 2 Theta; Rocking ...
高通量X光蛋白質晶體衍射系統是一種用於生物學領域的分析儀器，於2010年9月21日啟用。技術指標 1. 微聚焦X射線發生器 Microfocus X- ray generator（一台） 1.1 高壓發生器 High-Voltage Power Supply；最大輸出功率：≥1200 W. 1...
高強度X射線單晶衍射儀是一種用於生物學、基礎醫學、藥學領域的分析儀器，於2016年10月1日啟用。技術指標 1靶類型：微焦斑旋轉陽極，銅靶 1.1 最大輸出功率：≥ 2500W 1.2 最大管電流：≥ 60mA 1.3 最大管電壓：≥45kV 2....
晶體定向儀：X射線晶體定向儀利用X射線衍射原理，精密快速地測定天然和人造單晶（壓電晶體，光學晶體，雷射晶體，半導體晶體）的切割角度，與切割機配套可用於上述晶體的定向切割，是精密加工製造晶體器件不可缺少的儀器·該儀器廣泛套用於...
粉末X射線衍射儀是一種用於藥學領域的分析儀器，於2016年10月01日啟用。技術指標 1）最大輸出功率：3kW 2）探測器：D/tex Ultra250超速一維陣列探測器 3）自動進樣 4）性價比高，設計人性化，24位高通量；。主要功能 1）判斷物質...
