粉末X射線衍射儀是一種用於藥學領域的分析儀器,於2016年10月01日啟用。
基本介紹
- 中文名:粉末X射線衍射儀
- 產地:日本
- 學科領域:藥學
- 啟用日期:2016年10月01日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
粉末X射線衍射儀是一種用於藥學領域的分析儀器,於2016年10月01日啟用。
X射線衍射儀是利用X射線衍射法對物質進行非破壞性分析的儀器,由X射線發生器、測角儀、X射線強度測量系統以及衍射儀控制與衍射數據採集、處理系統四大部分組成。 “X射線衍射儀"可分為"X射線粉末衍射儀"和"X射線單晶體衍射儀".由於物質...
粉末X射線衍射儀是一種用於藥學領域的分析儀器,於2016年10月01日啟用。技術指標 1)最大輸出功率:3kW 2)探測器:D/tex Ultra250超速一維陣列探測器 3)自動進樣 4)性價比高,設計人性化,24位高通量;。主要功能 1)判斷物質...
X光粉末衍射儀 X光粉末衍射儀是一種用於化學工程領域的分析儀器,於2004年12月1日啟用。技術指標 角度準確度:主要功能 固體材料的定性、定量,晶粒大小、指標化和晶胞常數的測定和表征。
6、衍射角(2θ)的測量準確度和精確度。7、解析度:常用的Si(311)衍射峰的半高寬來代表。對於一般實驗室粉末衍射儀,此值約在0.05°~0.1°之間。套用 油田錄井 Olympus攜帶型X 射線衍射儀BTX可能直接分析出岩石的礦物組成及相對含量...
粉末X-射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2003年12月1日啟用。技術指標 功率2/3kW; 穩定度≤0.005%,最快定位速度:1000˚/min,角度重現性:0.0001˚,最小步長:0.002˚(θ),閃爍計數器線性範圍:2 x 10^6...
X射線粉末衍射 X射線粉末衍射(X-ray powder diffraction)是2019年全國科學技術名詞審定委員會公布的冶金學名詞。定義 利用X射線在多晶體粉末中的衍射行為來研究多晶體結構的分析方法。出處 《冶金學名詞》第二版 ...
多功能粉末X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2017年3月7日啟用。技術指標 測角準確度:≤0.01°重複性:≤0.001° 一維探測器通道256,二維探測器通道385。主要功能 晶體物質物相,半定量,定量分析,晶粒大小,結晶...
高分辨高精度X射線粉末衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年5月12日啟用。技術指標 Ka1單色器,配毛細管旋轉樣品台; 高溫樣品台:室溫至1200oC; 解析度:0.001,最大電壓60kV,最大電流60mA,功率3000W; 衍射樣品台,...
高溫粉末X-射線衍射儀是一種用於化學、地球科學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2013年3月21日啟用。技術指標 功率:50×40 (KV×MA;)穩定性:±0.01%之內; ;2θ測角範圍:0.5°-146°;最小步長...
多功能X射線粉末衍射儀是一種用於物理學、化學、地球科學、生物學領域的分析儀器,於2006年1月1日啟用。技術指標 裝機功率:3kW;測角儀角度重現性:0.0001度;立式測角儀;掃描範圍:0至160°2θ;測角儀半徑240mm;探測範圍:0....
粉晶X射線衍射儀是一種用於地球科學、材料科學、能源科學技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2012年09月11日啟用。技術指標 垂直廣角測角儀:掃描方式2θ/θ聯動方式、最小步進0.0001度,半徑185mm~285mm、設定重複性0...
X射線多晶粉末衍射儀是一種用於化學、材料科學、化學工程、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2014年11月1日啟用。技術指標 1.最大輸出功率3kW,配有Cu靶和陶瓷X光管; 2.測角儀採用光學編碼器技術與步進馬達雙重定位,...
X射線衍射儀系統是一種用於化學、藥學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2012年12月15日啟用。技術指標 功率:3 kW 測角範圍(2θ):0.1 ~ 140°測角準確度Δ(2θc):0° 測角復現性(Sθd ):0....
此台衍射儀可進行樣品物相的定性和定量分析,點參測定、巨觀殘餘應力、晶粒大小和精細結構分析等。該儀器為X射線光管式衍射儀,立式測角儀,樣品平放且測試過程中靜止不動,所以可以測試粉末樣品,薄片樣品;該儀器配有自動換樣器,可...
閃爍計數器, 線性範圍:0-2*106CPS,資料庫含11.7萬張標準圖譜。主要功能 樣品通常為小塊金屬或粉末,又稱粉末X射線衍射儀。利用多晶樣品對X射線的衍射效應,記錄和分析X射線衍射圖譜,可以對樣品進行物相定性和定量分析。
高功率X射線粉末衍射儀的主要用途: 多晶衍射(粉末衍射):定性分析、定量分析、晶粒大小、點陣參數、全譜結構最佳化擬合、巨觀殘餘應力。薄膜分析等。右衍射儀可獲得高強度的Kα1衍射譜,有利於分析低對稱晶系。數據處理具有先進的峰...
X射線粉晶衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年11月7日啟用。技術指標 包括長壽命X光管、X射線發生器、高精密測角儀、雙臂探測器系統,閃爍計數器,陣列探測器、標準樣品台,計算機控制系統、數據處理軟體、相關套用軟體和循環...
高溫原位X射線衍射儀是一種用於數學領域的分析儀器,於2018年03月23日啟用。技術指標 1.樣品形狀:塊體、粉末、薄膜、液體;2.變溫範圍:室溫-2000℃(空氣,惰性氣氛,還原性氣氛),升溫速率:0.1-60℃;3.2θ範圍:-10 – ...
四圓單晶X射線衍射儀是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2007年10月1日啟用。技術指標 小角度衍射,角度範圍:0-130度。主要功能 X 射線多晶衍射是利用不同構象和晶型的粉末固體對X射線有其特殊的 衍射方向和強度, 得到特徵...
X射線高分辨衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2007年1月15日啟用。技術指標 2Th準確度:最強峰位角度值與標準卡片值(35.153)之差0.01度;GM測試:最強峰值強度≥2.3E09cps,Si111樣品半高寬0.028度;四晶單色器測試:...
多晶粉末X射線衍射儀是一種用於核科學技術領域的分析儀器,於2015年12月10日啟用。技術指標 1.工作溫度:15-25 °C 2.工作濕度:40-80 % 3.UPS電源:30 kVA(220-240 V +/– 10 %, 50-60 Hz) 4.最大輸出功率:2....
X射線粉末多晶衍射儀是一種用於化學、生物學、農學、林學領域的分析儀器,於2009年12月30日啟用。技術指標 角度重現性0.0001度,ztheta0.5-120度。主要功能 1.物相定性和定量分析. 2.結晶度測定. 3.晶粒大小測定. 4.單晶取向和...
X-射線粉沫衍射儀 X-射線粉沫衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2003年5月20日啟用。技術指標 低溫最低至30K,高溫最高到1300K。主要功能 測衍射譜,樣品物相分析。
全自動智慧型型X射線粉末衍射儀 全自動智慧型型X射線粉末衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年12月20日啟用。技術指標 SmartLab3KW。主要功能 衍射分析。
高分辨粉末X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2014年3月7日啟用。技術指標 X射線發生器和機櫃: 最大輸出功率: 4kW, 最大管壓: 60kV,1mV/步, 機櫃同步數字顯示, 最大管流: 100mA,1mA/步,機櫃同步數字顯示, ...
原位X射線粉末衍射儀 原位X射線粉末衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年7月1日啟用。技術指標 粉末測試,結構精修,高低溫、原位結構剖析。主要功能 高低溫條件對電池性能影響 |充放電過程對電池微觀結構的改變。
多晶X射線粉末衍射儀 多晶X射線粉末衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2014年7月1日啟用。技術指標 研究多晶樣品的成分和結構。主要功能 X射線衍射法研究多晶樣品的成分和結構。