X射線高分辨衍射儀

X射線高分辨衍射儀

X射線高分辨衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2007年1月15日啟用。

基本介紹

  • 中文名:X射線高分辨衍射儀
  • 產地:德國
  • 學科領域:材料科學
  • 啟用日期:2007年1月15日
  • 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
技術指標,主要功能,

技術指標

2Th準確度:最強峰位地犁角度值與標準卡片值(35.153)之差0.01度;GM測試:最強峰值強度≥2.3E09cps,Si111樣品半高寬0.028度;四晶單色器測試:半高寬≤0.008度。

主要功能

能完成粉末樣甩舉記品、固體樣品的高寒櫻危靈敏度測試,微量相分析,薄膜材料的反射、掠射、高分辨衍射夜舟歸朽,織構挨鞏祝以及高分子樣品的連主膠取向鑽煮慨危等測量。

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