X射線衍射儀201501是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年11月30日啟用。
基本介紹
- 中文名:X射線衍射儀201501
- 產地:荷蘭
- 學科領域:材料科學
- 啟用日期:2015年11月30日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
X射線衍射儀201501是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年11月30日啟用。
X射線衍射儀的英文名稱是X-ray Powder diffractometer簡寫為XPD或XRD。有時會把它叫做x射線多晶體衍射儀,英文名稱為X-ray polycrystalline diffractometer簡寫仍為XPD或XRD。原理 x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近,晶體可以作為X...
1912年,勞厄等人根據理論預見,證實了晶體材料中相距幾十到幾百皮米(pm)的原子是周期性排列的;這個周期排列的原子結構可以成為X射線衍射的“衍射光柵”;X射線具有波動特性, 是波長為幾十到幾百皮米的電磁波,並具有衍射的能力。 [1] ...
X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer)。本儀器分析的對象是一粒單晶體,如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線(如Cu的Kα輻射)射到一粒單晶體上會發生衍射,由對衍射線的分析...
X射線衍射分析的套用幾乎遍及物理、化學、生物、醫藥、金屬、地質、礦物、陶瓷、半導體、材料科學以及高分子科學等各個學科領域,成為各學科的科學工作者獲得物質組成和微觀結構信息的手段。0320 螢光光譜儀 當某些物質到被某種能量較高的輻射...
X衍射分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2002年11月1日啟用。技術指標 測角儀精度0.0001°,角度重現性0.0001°,角範圍0-167°,測角儀半徑240mm。主要功能 X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質的晶體結構,織構及...
島津X射線衍射儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2014年03月31日啟用。技術指標 運轉(1000°/min),精度角度(±0.0001°);。主要功能 精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量...
高溫X射線衍射儀 高溫X射線衍射儀是一種用於冶金工程技術領域的分析儀器,於2013年05月30日啟用。技術指標 高溫固體探測0-2000℃ θ/θ分析方式。主要功能 進行固體、粉末的定性以及物質結構分析。
粉晶X射線衍射儀是一種用於地球科學、材料科學、能源科學技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2012年09月11日啟用。技術指標 垂直廣角測角儀:掃描方式2θ/θ聯動方式、最小步進0.0001度,半徑185mm~285mm、設定重複性0...
X射線薄膜衍射儀 X射線薄膜衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2004年12月16日啟用。技術指標 角度範圍2Theta -5o~160o,角度解析度0.001o;薄膜樣品台。主要功能 分析材料的物質組成以及能級結構。
高功率X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年12月21日啟用。技術指標 旋轉陽極Cu靶,最大輸出功率6kW,能量色散陣列探測器(能量解析度優於380eV),高精度五軸尤拉環樣品台。主要功能 常規XRD掃描,薄膜掠入射等。
面探X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2003年12月1日啟用。技術指標 2θ測量範圍:-10°-155°。微區最小測量範圍:直徑50μm。主要功能 廣泛套用於金屬及合金材料、半導體及超導材料、化學及塗層材料、人工晶體、聚合物...
X-衍射儀 X-衍射儀是一種用於物理學、地球科學領域的分析儀器,於2005年10月8日啟用。技術指標 sc探測器能量解析度E<55%;儀器角度解析度D<40% ;綜合穩定性<±1.5%。主要功能 單礦物及礦物結構測定。
雙光源單晶X射線衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2016年11月08日啟用。技術指標 (1)Mo/Cu雙微焦斑系統,可自動切換;(2)全新CMOS二維陣列探測器,檢測器面積10cm×14cm;(3)Kappa四圓測角儀,角度重現性±0....
XRD衍射儀是一種用於化學工程、化學、中醫學與中藥學、生物學領域的分析儀器。技術指標 X射線發生器,最大功率3KW,最大管電壓60HV,電流80mA,垂直型測角儀,掃描範圍:-6°~163°(2θ), -180°~180°(θ),掃描速度:0.1~50...
X射線雙晶衍射儀是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器,於2002年12月1日啟用。技術指標 多種半導體材料和器件結構的測試分析,包括Ⅲ-Ⅴ,Ⅱ-Ⅳ族和Si系列材料,如砷化鎵和氮化鎵系的多量子阱結構的測試。主要功能 檢測。
多晶X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2008年7月1日啟用。技術指標 ● X射線高壓發生器:最大功率:3kW,最大電壓:60kV,最大電流:60mA ● 陶瓷X光管:Cu靶,最大功率:2.2kW, 最大電壓:60kV,最大電流:55...
粉末X射線衍射儀是一種用於藥學領域的分析儀器,於2016年10月01日啟用。技術指標 1)最大輸出功率:3kW 2)探測器:D/tex Ultra250超速一維陣列探測器 3)自動進樣 4)性價比高,設計人性化,24位高通量;。主要功能 1)判斷物質...
X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質內部微觀結構的一種大型分析儀器。主要用於精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量分析。廣泛套用於冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產等領域。
《X射線衍射儀技術條件》是2010年機械工業出版社出版的圖書,作者是機械工業出版社。內容簡介 本標準代替JB/T9400—1999《x射線衍射儀技術條件》。本標準與JB/T9400--1999相比,主要變化如下:——增加了目次;——對表格進行了修改;...
X射線多晶體衍射儀是一種用於數學領域的分析儀器,於2016年6月24日啟用。技術指標 加速電壓≤45 kv、管流≤200 mA、功率≤9 kw。掃描範圍:2θ:2°~160°(SC)、2°~158°(D/Tex)。2θ角示值誤差:0.017°。2θ角重複性...
小分子單晶X射線衍射儀 小分子單晶X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2010年12月1日啟用。技術指標 最大功率600W CCD有效面積:75mm圓形。主要功能 單晶結構分析。
高溫原位X射線衍射儀是一種用於數學領域的分析儀器,於2018年03月23日啟用。技術指標 1.樣品形狀:塊體、粉末、薄膜、液體;2.變溫範圍:室溫-2000℃(空氣,惰性氣氛,還原性氣氛),升溫速率:0.1-60℃;3.2θ範圍:-10 – ...
單晶X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2016年7月1日啟用。技術指標 使用PILATUS200K全新平面探測器;測量時,可以連續掃描,不需要關閉快門,直到數據採集完成;不像傳統的IP或CCD需要不停開閉快門;無暗電流,無噪音,可以長...
原位反應X射線衍射儀是一種用於化學、生物學、材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2018年9月26日啟用。技術指標 X射線管:陶瓷X射線管,銅靶 X射線發生器:最大輸出功率 3KW,額定電壓60 kV 測角儀:測角儀垂直放置,測角儀半徑...
X射線晶體衍射分析儀是一種用於物理學、化學領域的分析儀器,於2011年8月31日啟用。技術指標 X射線晶體分析儀利用背射勞厄照相,底片安裝在晶體與射線源之間,而入射光束則在底片上的小孔通過,所記錄的為向後方向上的衍射光束,用衍射...
X光雙晶衍射儀 X光雙晶衍射儀是一種用於物理學領域的分析儀器,於2005年11月29日啟用。技術指標 X射線管80w,Cu靶。主要功能 半導體薄膜組分測試,晶體質量表征等。
多功能X射線衍射儀設計精巧、結構緊湊,是一款高精度、高速測角儀。技術參數 多功能的X射線衍射儀 C機控制的原位微處理器,得到超高穩定性的X射線發生器 帶有可旋轉管的管罩,可以使用點焦點或焦點 聚焦Kα1單色器可以得到高強度和高...
CCD單晶X射線衍射儀是一種用於化學、藥學、材料科學、食品科學技術領域的分析儀器,於2009年1月12日啟用。技術指標 高功率(5.4KW)固定靶X射線發生器(鉬靶),檢測器為Saturn724+CCD面探測器。主要功能 無機、有機、金屬有機化合物...
衍射光分析儀是一種用於物理學、測繪科學技術、材料科學領域的分析儀器,於2008年02月28日啟用。技術指標 德國布魯克bruker D4粉末X射線衍射儀,是專為電解鋁生產過程控制分子比提供分析數據,它可以大大減少樣品的循環次數。採用銅鈀光管...