15-X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年12月29日啟用。
基本介紹
- 中文名:15-X射線衍射儀
- 產地:荷蘭
- 學科領域:材料科學
- 啟用日期:2018年12月29日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
15-X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年12月29日啟用。
15-X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年12月29日啟用。技術指標X射線發生器最大輸出功率 3KW,最大管壓60kV,最大管流60mA,5軸樣品台。1主要功能薄膜電子材料的定性分析、取向分析。1...
X射線晶體衍射分析儀是一種用於物理學、化學領域的分析儀器,於2011年8月31日啟用。技術指標 X射線晶體分析儀利用背射勞厄照相,底片安裝在晶體與射線源之間,而入射光束則在底片上的小孔通過,所記錄的為向後方向上的衍射光束,用衍射...
多晶粉末X射線衍射儀是一種用於核科學技術領域的分析儀器,於2015年12月10日啟用。技術指標 1.工作溫度:15-25 °C 2.工作濕度:40-80 % 3.UPS電源:30 kVA(220-240 V +/– 10 %, 50-60 Hz) 4.最大輸出功率:2....
台式X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2018年10月17日啟用。技術指標 PHA視窗寬度10-20div,Si粉末標準樣品的(220),(511),(620)面的衍射峰角度為Si(220)=47.263±0.1°,Si(511)=94.911±0.1°和Si(620)...
水平X射線衍射儀 水平X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2015年1月27日啟用。技術指標 功率:3KW 最小步進;1/10000度。主要功能 新材料。
《X射線衍射儀技術條件》是2010年7月機械工業出版社出版的圖書,作者是機械工業出版社。內容簡介 本標準代替JB/T9400—1999《x射線衍射儀技術條件》。本標準與JB/T9400--1999相比,主要變化如下:——增加了目次;——對表格進行了修改...
微區X射線衍射儀是一種用於物理學、化學、材料科學、考古學領域的分析儀器,於2015年1月12日啟用。技術指標 採用新一代的陶瓷X光管技術,焦斑位置穩定,衰減小,壽命長 ; 全自動可變狹縫,可以自由選擇固定狹縫大小或固定測量面積模式...
針孔法得到的衍射花樣是衍射線的整個圓環,適於研究晶粒大小、晶體完整性、巨觀殘餘應力及多晶試樣中的擇優取向等。但這種方法只能記錄很少的幾個衍射環,不適於其它套用。衍射儀法 X射線衍射儀以布拉格實驗裝置為原型,融合了機械與電子...
X射線高分辨衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2007年1月15日啟用。技術指標 2Th準確度:最強峰位角度值與標準卡片值(35.153)之差0.01度;GM測試:最強峰值強度≥2.3E09cps,Si111樣品半高寬0.028度;四晶單色器測試:...
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