水平X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2015年1月27日啟用。
基本介紹
- 中文名:水平X射線衍射儀
- 產地:日本
- 學科領域:化學
- 啟用日期:2015年1月27日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
水平X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2015年1月27日啟用。
水平X射線衍射儀 水平X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2015年1月27日啟用。技術指標 功率:3KW 最小步進;1/10000度。主要功能 新材料。
X射線衍射儀系統是一種用於化學、藥學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2012年12月15日啟用。技術指標 功率:3 kW 測角範圍(2θ):0.1 ~ 140°測角準確度Δ(2θc):0° 測角復現性(Sθd ):0....
卡口式連線光鑭來實現X射線光束的準直確保光束在水平方向的完美調整;索拉狹縫限制垂直方向上光的發散。儀器介紹 APD 2000多功能衍射儀Ital structures 公司數字式粉末衍射系統,該儀器 設計精巧、結構緊湊、數據精確、使用簡便、功能強大,...
X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer)。本儀器分析的對象是一粒單晶體,如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線(如Cu的Kα輻射)射到一粒單晶體上會發生衍射,由對衍射線的分析...
(4) 衍射圖的處理分析系統 現代X射線衍射儀都附帶安裝有專用衍射圖處理分析軟體的計算機系統, 它們的特點是自動化和智慧型化。X射線衍射最新進展 編輯 語音 自1912年勞厄等發現硫酸銅晶體的衍射現象的100年間,X射線衍射這一重要探測手段...
X射線多晶衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2003年11月08日啟用。技術指標 線發生器,垂直Q/2Q測角器 X射線發生器功率:3KW,陶瓷X射線管2.2KW,Cu靶垂直測角儀Q/2Q,直徑435mm, 測角精度:0.0001度,最高掃描...
台式X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2018年10月17日啟用。技術指標 PHA視窗寬度10-20div,Si粉末標準樣品的(220),(511),(620)面的衍射峰角度為Si(220)=47.263±0.1°,Si(511)=94.911±0.1°和Si(620)...
微區X射線衍射儀是一種用於物理學、化學、材料科學、考古學領域的分析儀器,於2015年1月12日啟用。技術指標 採用新一代的陶瓷X光管技術,焦斑位置穩定,衰減小,壽命長 ; 全自動可變狹縫,可以自由選擇固定狹縫大小或固定測量面積模式...
高解析度X射線衍射儀是一種用於數學領域的分析儀器,於2017年5月1日啟用。技術指標 直入射強度>10^7cps;2theta 和omega角的解析度>0.01°;G220單色器,選用Cu- Kα1特徵峰,波長0.15406nm;吸收片自動轉換;限寬狹縫手動切換,...
智慧型X射線衍射儀是一種用於數學領域的分析儀器,於2016年12月1日啟用。技術指標 最大功率:3kW;theta,2theta軸最小步距0.004o,theta/2theta角度範圍5o-140o。主要功能 此台衍射儀可進行樣品物相的定性和定量分析,點參測定、巨觀...
台式自動X射線衍射儀是一種用於能源科學技術領域的分析儀器,於2016年04月01日啟用。技術指標 材料:單晶矽 ; 切出方向:(510)+0.1°; 外部尺寸:35(W)×50(H)×2(T)mm ; 樣品放置部分的尺寸:20(W)×18(H)×0.2(T...
《X射線衍射儀技術條件》是2010年機械工業出版社出版的圖書,作者是機械工業出版社。內容簡介 本標準代替JB/T9400—1999《x射線衍射儀技術條件》。本標準與JB/T9400--1999相比,主要變化如下:——增加了目次;——對表格進行了修改;...
原位分析型X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於1970年1月1日啟用。技術指標 X射線管發生器功率3KW;水平測角儀最小步進為1/10000度;測角儀配程式式可變狹縫;配高反射效率石墨單色器;CBO交叉光路,提供聚焦光路及高強度...
於2010年6月18日啟用。技術指標 最小步進角度0.0001°,2θ衍射峰最低可達0.3 °測角儀半徑: 185mm/285mm。主要功能 3KW的高性能多功能粉晶X射線衍射儀,採用高精度、高強度樣品水平測角儀,。
高功率X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年12月21日啟用。技術指標 旋轉陽極Cu靶,最大輸出功率6kW,能量色散陣列探測器(能量解析度優於380eV),高精度五軸尤拉環樣品台。主要功能 常規XRD掃描,薄膜掠入射等。
島津X射線衍射儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2014年03月31日啟用。技術指標 運轉(1000°/min),精度角度(±0.0001°);。主要功能 精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量...
X射線單晶衍射儀是一種用於化學、藥學領域的分析儀器,於2009年6月25日啟用。技術指標 高解析度:映象面積62mm×62mm,4K CCD晶片,面積大容量高,象素解析度高:15µm×15µm, 高靈敏度:CCD探頭無束錐,1:1耦合,光線透過率...
D8X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2011年7月8日啟用。技術指標 1、掃描模式:廣角5°-160°,步進掃描; 2、X光管:銅靶(陶瓷外殼); 3、工作電流電壓:40KV、40mA; 4、測角儀器精度:0.0001°; 5、狹縫...
粉晶X射線衍射儀是一種用於地球科學、材料科學、能源科學技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2012年09月11日啟用。技術指標 垂直廣角測角儀:掃描方式2θ/θ聯動方式、最小步進0.0001度,半徑185mm~285mm、設定重複性0...
X射線薄膜衍射儀 X射線薄膜衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2004年12月16日啟用。技術指標 角度範圍2Theta -5o~160o,角度解析度0.001o;薄膜樣品台。主要功能 分析材料的物質組成以及能級結構。
高溫X射線衍射儀 高溫X射線衍射儀是一種用於冶金工程技術領域的分析儀器,於2013年05月30日啟用。技術指標 高溫固體探測0-2000℃ θ/θ分析方式。主要功能 進行固體、粉末的定性以及物質結構分析。
X光雙晶衍射儀 X光雙晶衍射儀是一種用於物理學領域的分析儀器,於2005年11月29日啟用。技術指標 X射線管80w,Cu靶。主要功能 半導體薄膜組分測試,晶體質量表征等。
X光粉末衍射儀 X光粉末衍射儀是一種用於化學工程領域的分析儀器,於2004年12月1日啟用。技術指標 角度準確度:主要功能 固體材料的定性、定量,晶粒大小、指標化和晶胞常數的測定和表征。
全自動X射線衍射儀是一種用於物理學、化學、藥學、材料科學領域的分析儀器,於2010年2月8日啟用。技術指標 最大輸出3KW,電源穩定度±0.005%以內,廣角測角儀,重複性1°/10000最小步進1°/10000。主要功能 材料的物相定性與定量分析...