X射線單晶薄膜衍射儀

X射線單晶薄膜衍射儀是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器，於2012年12月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：X射線單晶薄膜衍射儀
• 產地：荷蘭
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2012年12月1日
• 所屬類別：物理性能測試儀器

技術指標

X光管最大功率：3kW 測量範圍/精度 Chi：-11°~98° Δ0.01°; Phi：-180°to +180°。

主要功能

2 Theta; Rocking curve;, XRR; Pole figure;Mapping。