X射線單晶影像板系統

X射線單晶影像板系統是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2001年1月24日啟用。

基本介紹

• 中文名：X射線單晶影像板系統
• 產地：日本
• 學科領域：化學、材料科學、化學工程
• 啟用日期：2001年1月24日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀

技術指標

1、IP掃描半徑：127.4mm。 2、IP檢測範圍：465*256。 3、X-射線功率：18kW(60kV/300mA)。4、靈敏度：1 X-ray Photon /pixel。

主要功能

配合物分子等單晶的晶體結構測定。