低溫X射線衍射儀

低溫X射線衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2014年9月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：低溫X射線衍射儀
• 產地：德國
• 學科領域：物理學、材料科學
• 啟用日期：2014年9月1日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀

技術指標

測角儀最小步長：0.0001度，測量溫度：100K到600K。

主要功能

能夠精確測量低溫下多晶，單晶材料和薄膜材料的晶格結構和原子占位，薄膜厚度及成相情況，晶格畸變和結構相變。