單晶X射線衍射測量儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2008年1月3日啟用。
基本介紹
- 中文名：單晶X射線衍射測量儀
- 產地：日本
- 學科領域：材料科學
- 啟用日期：2008年1月3日
- 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
技術指標,主要功能,
技術指標
X光源：Mo陽極封戲贈殃閉靶光學系統：石墨單色器探測器：Mercury2CCD測角儀：AFC-Simplified固定2θ，固定X。
主要功能
套用於小敬微獄棕漿霉分子化合物淚拜拔辯單晶結構分析。以不同角度的X射線照射單晶樣品，用CCD拍攝樣品的衍射照片，照片數據盛戒整經軟體解析後得到樣品的三維閥拘體敬衍射圖譜，從而測定化合物的單晶結疊甩構。
