單晶X射線衍射測量儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2008年1月3日啟用。
基本介紹
- 中文名：單晶X射線衍射測量儀
- 產地：日本
- 學科領域：材料科學
- 啟用日期：2008年1月3日
- 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
技術指標,主要功能,
技術指標
X光源：Mo陽極封閉靶光學系統：石墨單色器探測器：Mercury2CCD測角儀：AFC-Simplified固定2θ，固定X。
主要功能
套用於小分子化合物單晶結構分析。以不同角度的X射線照射單晶樣品，用CCD拍攝樣品的衍射照片，照片數據經軟體解析後得到樣品的三維衍射圖譜，從而測定化合物的單晶結構。
