X射線單晶面探儀

X射線單晶面探儀 安放地點： 10號樓一層

主要用途： 測定物質分子在低溫或室溫下的晶體結構和分子結構，確定物質分子中原子在空間的位置和排列，了解原子或分子間的相互作用。 對從分子結構出發設計分子器件，探索功能材料與結構的關係，新型催化劑的催化機理，納米材料性能的解釋具有指導作用。

基本介紹

• 中文名：X射線單晶面探儀
• 儀器類別：四圓單晶X射線衍射儀等
• 額定電壓：20KV～60KV
• 最大額定電：300mA

儀器類別： 0303050202 /儀器儀表 /成份分析儀器 /四圓單晶X射線衍射儀

指標信息： 額定功能：18KW 額定電壓：20KV～60KV 最大額定電流：300mA IP檢出面積：466×256mm 像素尺寸：100×100μm 測角範圍：2θ=-60°～144°

附屬檔案信息： 低溫附屬檔案最低溫度-180℃，溫度精度±0.5，不用液氮，在X，Y，Z方向上調整噴氣位置，並配有國際晶體學會晶體結構資料庫（英國劍橋）