x-光織構極圖分析儀

x-光織構極圖分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2012年10月16日啟用。

基本介紹

• 中文名：x-光織構極圖分析儀
• 產地：荷蘭
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2012年10月16日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀

技術指標

χ射線發生器：最大功率：3kw （45KV X50mA ）;測角儀： 角度重現性：±0.0001°； 2θ範圍：0～167°；精度：0.0025° ；解析度：0.037°；最小步長：0.0001°探測器：99%線性範圍1×106cps，最大背景≤0.2cps 。

主要功能

薄膜及粉末樣品的XRD分析。