高溫X衍射儀

高溫X衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2003年11月5日啟用。

基本介紹

• 中文名：高溫X衍射儀
• 產地：荷蘭
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2003年11月5日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀

技術指標

1、陶瓷X光管：最大功率：2.2kW（Cu靶）2、測角儀重現性：0.0001度3、2θ測量範圍：0--167o，測量精度：2θ±0.01o3、可控最小步進：0.0001度4、PIXcel1D超能陣列探測器：最大背景＜0.2cps5、高溫附屬檔案(HTK1200)：室溫--1200℃原位衍射分析。

主要功能

X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質內部微觀結構的一種大型分析儀器。主要用於精確測定物質的晶體結構，織構及應力，精確的進行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛套用於冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學，材料生產等領域。