低電壓掃描電鏡套用技術研究

內容簡介

《低電壓掃描電鏡套用技術研究》系統闡述了低電壓掃描電鏡面臨的主要挑戰及其在無機納米材料領域的套用。全書共分5章，內容包括低電壓掃描電鏡的原理、荷電現象及其解決方案、低電壓掃描電鏡的技術突破、低電壓能譜以及電子背散射衍射技術在無機材料領域的套用等，突出了掃描電鏡發展的三個趨勢：揭示更細小、更真實的顯微結構；獲得更細微的材料元素分布；更多地了解材料的晶體學信息與其顯微結構對應關係。

《低電壓掃描電鏡套用技術研究》可供材料科學、生命科學、冶金、地質、考古及生物等相關學科的本科生、研究生和廣大的科技工作者閱讀、參考

圖書目錄

第1章概述

1．1 掃描電鏡簡介

1．1．1 掃描電鏡特點

1．1．2 掃描電鏡的發展簡史

1．2 掃描電鏡的原理

1．3 掃描電鏡的解析度

1．3．1 解析度簡介

1．3．2 影響解析度的因素

1．3．3 解析度測量

1．4 掃描電鏡圖像襯度

1．4．1 二次電子像

1．4．2 材料襯度

1．4．3 背散射電子像

1．4．4 電位襯度

1．4．5 通道效應襯度

1．4．6 STEM分析

第2章掃描電鏡的荷電及解決方案

2．1 荷電現象

2．2 荷電機理

2．3 荷電的解決方案

2．3．1 鍍膜

2．3．2 採用低加速電壓進行觀察

2．3．3 採用下探測器進行觀察

2．3．4 採用背散射電子像來進行觀察

2．3．5 採用快速掃描方式採集圖像

2．3．6 採用高加速電壓擊穿材料來減少荷電

第3章低電壓掃描電鏡的技術突破及套用分析

3．1 低電壓掃描電鏡電子槍類型

3．2 低電壓掃描電鏡的重要突破

3．3 低電壓掃描電鏡的技術發展

3．3．1 減速模式

3．3．2 探測器

3．3．3 帶像差校正的掃描電鏡

3．3．4 帶單色器的超高解析度掃描電鏡

3．4 低電壓掃描電鏡的套用

3．4．1 在熱敏感材料中的套用

3．4．2 在石墨烯表征中的套用

3．4．3 在納米TiO2製備與表征中的套用

3．4．4 在Ag/PVA纖維中的套用

3．4．5 在離子表面改性研究中的套用

3．5 低電壓掃描電鏡其他技術套用分析

3．5．1 加速電壓的影響

3．5．2 低電壓掃描電鏡對介孔材料的表征

第4章低電壓能譜分析

4．1 能譜分析概述

4．2 低電壓掃描電鏡能譜微區分析特點

低電壓掃描電鏡套用技術研究

基本介紹

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