高真空薄膜沉積系統是一種用於物理學、材料科學、電子與通信技術領域的工藝試驗儀器,於2008年10月21日啟用。
基本介紹
- 中文名:高真空薄膜沉積系統
- 產地:中國
- 學科領域:物理學、材料科學、電子與通信技術
- 啟用日期:2008年10月21日
- 所屬類別:工藝試驗儀器 > 電子工藝實驗設備 > 電真空器件工藝實驗設備
高真空薄膜沉積系統是一種用於物理學、材料科學、電子與通信技術領域的工藝試驗儀器,於2008年10月21日啟用。
超高真空薄膜沉積系統 超高真空薄膜沉積系統是一種用於材料科學領域的科學儀器,於2015年7月8日啟用。技術指標 真空度:1*10^-4 pa。主要功能 有機薄膜沉積。
有機薄膜沉積系統是一種用於物理學、能源科學技術領域的工藝試驗儀器,於2011年12月25日啟用。技術指標 該設備主要由蒸發沉積室、手套箱、真空排氣系統、真空測量系統、蒸發源、樣品傳遞裝置、計算機控制系統、電控系統、配氣系統等部分組成...
太陽能薄膜電池沉積系統是一種用於材料科學領域的工藝試驗儀器,於2010年1月3日啟用。技術指標 1、腔室配置及真空系統1個預抽室,1個樣品傳遞室(配裝高真空機械手),3~6個樣品製備室;樣品製備室包括:PECVD室和PVD(磁控濺射)室...
電子束蒸發薄膜沉積系統是一種用於物理學、材料科學、動力與電氣工程領域的計量儀器,於2015年12月23日啟用。技術指標 1.樣品規格:6″Wafer;2.設備極限真空:2#215;10-8Torr;3.電子槍規格:6坩堝,20cc,5KW電源;4.設備框架尺寸...
氧化物薄膜沉積系統是一種用於物理學、電子與通信技術領域的分析儀器,於2016年12月22日啟用。技術指標 1) 真空度:優於10-8 mbar 2) 薄膜監控:30 KV RHEED 3) 樣品大小:10x10 mm2 4) 襯底加熱/方式:1100 oC/雷射加熱 5) ...
半導體複合薄膜沉積系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2017年1月1日啟用。技術指標 生長室尺寸600*450mm筒形結構預處理室尺寸300*900mm,極限真空8*10-8Pa,系統漏率小於10-8Pa.L/s。主要功能 無機功能薄膜沉積。
雙室薄膜沉積系統是一種用於物理學、材料科學領域的工藝試驗儀器,於2010年6月1日啟用。技術指標 立式雙室,行星夾具,分子泵機械泵真空系統。主要功能 本系統設有直流磁控濺射、射頻磁控濺射和熱蒸發法鍍膜裝置,既能獨立實現濺射鍍膜,...
磁控濺射薄膜沉積系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2010年6月1日啟用。技術指標 (1)真空鍍膜室,304 SS;(2)真空抽氣系統,TMH/U 521C;(3)真空測量系統,KJLC/MKS 979;(4)檢壓計,MKS 626A;(5)濺射源,...
PECVD沉積系統是一種用於動力與電氣工程、能源科學技術、計算機科學技術、化學工程領域的工藝試驗儀器,於2008年5月1日啟用。技術指標 矽薄膜沉積設備,極限真空10-6,溫度可達250 ℃。主要功能 PECVD主要是對半導體材料矽的濺射。
金屬與有機材料薄膜沉積系統是一種用於材料科學領域的科學儀器,於2017年3月8日啟用。技術指標 (1) 抽氣效率:40分鐘後可達≤5.0*10-6 Torr(粗抽管路至腔體在2m內);終極壓力:12小時後可達≤ 8*10-7 Torr; (2) 基載:...
雙室磁控濺射沉積系統是帶有進樣室的高真空多功能 磁控濺射鍍膜設備。它可用於在高真空背景下,充入高純氬氣,採用磁 控濺射方式製備各種金屬膜、介質膜、半導體膜,而且又可以較好地濺 射鐵磁材料(Fe、Co、Ni),製備磁性薄膜。在...
UHV沉積系統是一種用於材料科學領域的工藝試驗儀器,於2009年9月15日啟用。技術指標 外延室極限真空度:2.8*10^-8Pa;進樣室極限真空度:0.5*10^-5Pa;真空漏率2.0*10^-8Pa.l/S;靶材最大直徑70mm,最多4塊。主要功能 ...