電子探針顯微分析系統是一種用於材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2015年12月1日啟用。
基本介紹
- 中文名:電子探針顯微分析系統
- 產地:日本
- 學科領域:材料科學、化學工程
- 啟用日期:2015年12月1日
- 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡
電子探針顯微分析系統是一種用於材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2015年12月1日啟用。
電子探針顯微分析系統是一種用於材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2015年12月1日啟用。技術指標二次電子像解析度為5~6納米; 探針束流穩定度±0.15%/h; 元素成分檢測靈敏度可達10-6量級; 元素分析範圍5B...
電子探針顯微系統是一種用於化學、材料科學、物理學領域的分析儀器,於2019年6月30日啟用。技術指標 (1)二次電子像解析度:≤ 3 nm(加速電壓30 kV);(2)背散射電子像解析度:≤ 20 nm(拓撲像、成分像);(3)電子槍:肖特基場發射電子槍;(4)加速電壓:0.5~30 kV;(5)最大束流:≥3 μA;...
(6)吸收電子圖像系統。(7)特徵X射線圖像系統。電子探針的技術核心是利用X射線晶體光學,主要套用兩種方法:1)晶體衍射法(X射線光譜法)。利用晶體轉到一定角度,來衍射某種波長的X射線,通過讀出晶體不同的衍射角,求出X射線的波長,從而定出樣品所含的元素。2)X射線能譜分析法。無須分析晶體,而直接將探測...
電子探針儀(圖1)主要包括:探針形成系統 (電子槍、加速和聚焦部件等)、X射線信號檢測系統和顯示、記錄系統、樣品室、高壓電源和掃描系統以及真空系統。套用領域 電子探針的最早套用領域是金屬學。對合金中各組成相、夾雜物等可作定性和定量分析,直觀而方便,還能較準確地測定元素的擴散和偏析情況。此外,它還可用於...
通過電子掃描同步系統和電子顯示,可使樣品中各種組成的分布情況,以放大的圖像直接顯示於螢光屏上。因此,電子探針X射線顯微分析儀是礦物研究工作中既能微觀觀察,又能同時分析微區成分的精密儀器。引用示例 學科:岩礦分析與鑑定 詞目:電子探針X射線顯微分析 英文:electron microprobe X-ray micro-analysis 釋文:它...
電子探針X射線顯微分析儀,簡稱電子探針。是指以聚焦的高速電子來激發出試樣表面組成元素的特徵X射線,並根據X射線的波長和強度,對微區成分進行定性或定量分析的一種材料物理儀器。電子探針分析的原理是以電子束轟擊試樣表面,擊出表面組成元素的原子內層電子,使原子電離,此時外層電子迅速填補空位而釋放能量,從而產生...
其鏡筒部分構造和SEM相同,檢測部分使用X射線譜儀,用來檢測X射線的特徵波長(波譜儀)和特徵能量(能譜儀),以此對微區進行化學成分分析。X射線譜儀是電子探針的信號檢測系統,分為:能量分散譜儀(EDS),簡稱能譜儀,用來測定X射線特徵能量。波長分散譜儀(WDS),簡稱波譜儀,用來測定特徵X射線波長。WDS組成:...
電子探針系統是一種用於數學領域的分析儀器,於2013年6月1日啟用。技術指標 儀器配置:四通道、八塊分光晶體 (其中包括用於測試B、C、N、O等輕元素的LDE1H、LDE2H晶體)電 子 槍: LaB6分 辨 率:5nm(SEI)加速電壓:0.2-30kV探針束流:10-12-10-5A放大倍數:40-30萬倍元素範圍:B(5)-U(92)。主...
電子探針微分析儀是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2013年11月27日啟用。技術指標 電子束加速電壓0.1-30kV,電流10-12~10-6A;背散射電子圖像解析度小於20nm(15kV);真空系統樣品倉1*10-3Pa;RAP/LSA70/PbST/LSA120/LiF/PET/ADP分光晶體4道8塊;X射線角52.5度。主要功能 1、分析元素範圍5B-92U;2、...
《微束分析 電子探針顯微分析(EPMA) 術語(GB/T 21636-2008)(ISO 23833:2006)》等同採用國際標準ISO 23833: 2006《微束分析 電子探針顯微分析(EPMA) 術語》(英文版)。為了便於使用,本標準做了下列編輯性修改:5.7.5的注中對ISO 23833:2006勘誤將“Z>43”改為“Z>4”;刪除了法文版。 《微束分析 ...
高分辨場發射透射電子顯微分析系統是一種用於物理學、化學領域的分析儀器,於2012年5月20日啟用。技術指標 點解析度:0.205 nm , 線解析度:0.102 nm 加速電壓:300 kV放大倍數:2000 X ~ 1,000,000 X。主要功能 TEM形貌觀察(Transmission Electronic Microscope)普通透射形貌觀察,高分辨透射形貌觀察(HRTEM,...
術語 《微束分析 電子探針顯微分析 (EPMA) 術語》(標準號:GB/T 21636-2008)是2008年4月11日發布的國家標準(已廢止)。檔案發布 2008年4月11日,《微束分析 電子探針顯微分析 (EPMA) 術語》發布。2008年10月1日,《微束分析 電子探針顯微分析 (EPMA) 術語》實施。歸口部門 國家標準化管理委員會。
礦物電子探針顯微分析法是用電子探針顯微分析技術測定礦物化學成分的物理方法。以聚焦電子束為激發源,轟擊礦物表面時,電子與礦物表面的原子發生複雜的電子吸收、反射、透過等作用,這些作用以及其互動作用又可以產生X射線、二次電子、俄歇電子等信息。此法利用這些信息進行組合分析。通常有波長分光法和能量色散法,前者是...
《電子探針X射線顯微分析》是1973年4月科學出版社出版的圖書 ,作者是劉永康。圖書簡介 本書部分根據美國伯克斯1963年所著的《電子探針顯微分析》一書編譯而成。全書共分九章,其中介紹了電子探針技術的發展歷史、現狀及今後的展望,較全面地敘述了電子探針儀的結構和分析方法的基本原理。補充了編譯者從自己多年分析...
國家標準《微束分析 電子探針顯微分析(EPMA) 術語》 由TC38(全國微束分析標準化技術委員會)歸口 ,主管部門為國家標準化管理委員會。2021年12月31日,《微束分析電子探針顯微分析(EPMA) 術語》由國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會發布。修訂信息 2021年12月31日,《微束分析電子探針顯微分析(EPMA...
3.2電子的非彈性散射 3.2.1特徵X射線 3.2.2二次電子 3.2.3背散射電子 3.2.4俄歇電子 3.2.5陰極螢光 3.2.6透射電子 3.2.7電漿激發 3.2.8聲子激發 3.3輻照損傷 第4章電子衍射 第5章複雜電子衍射譜 第6章透射顯微術電子像襯度原理 第7章掃描電子顯微鏡 第8章電子探針顯微分析儀和微分析 ...
1967 年H.利布爾在電子探針概念的基礎上,用離子束代替電子束,以質譜儀(見質譜法)代替X 射線分光計研製成掃描式離子探針質量顯微分析儀。儀器 主要包括四部分:①能夠產生加速和聚焦一次離子束的離子源;②樣品室和二次離子引出裝置;③能把二次離子按質荷比分離的質量分析器;④二次離子檢測和顯示系統及計算機...
該表面分析系統中的能量分析器與表面分析室為UPS和XPS共同使用,UPS系統的紫外光源為He氣體放電時產生的HeⅠ(21.22 eV)和HeⅡ(40.81eV)共振線。表面分析方法 表面分析方法有數十種,常用的有離子探針、俄歇電子能譜分析和X射線光電子能譜分析,其次還有離子中和譜、離子散射譜、低能電子衍射、電子能量損失譜、...
《電子探針分析原理》是1990年科學出版社出版的圖書,作者是徐萃章。內容簡介 本書全面、系統地介紹了電子探針儀的工作原理、功能及套用。本書共十二章,第一、二章介紹電子探針儀的工作原理和設計要求;第三、四章敘述電子與靶極的互動作用、x光物理基礎;第五至十二章推導了修正公式井通過大量實例闡述數據分析的您正...
第1章介紹掃描電子顯微鏡和電子探針的結構、原理及操作;第2章介紹掃描電子顯微鏡附屬設備結構、原理及操作;第3章介紹聚焦離子束系統結構、工作原理及套用操作;第4章介紹透射電子顯微鏡結構、原理及基本套用操作;第5章介紹透射電子顯微鏡附屬設備結構、原理及操作。《電子顯微分析實驗指導》可作為高等院校相關專業的電...
顯微分析法,是指利用光學系統或電子光學系統顯微鏡,將肉眼所不能分辨的微小物體或物體的微細部分高倍放大,以期觀測和研究其結構和特性的方法。顯微鏡按用途可分為體視顯微鏡和生物顯微鏡兩大類。體視顯微鏡操作簡便,對標本要求不高,工作距離長,觀察時有較強的立體感,不需要對標本進行切片處理,因此體視顯微鏡在...
第2章 電子探針基礎 2.1 引言 2.2 電子探針分析 2.2.1 定性分析原理及技巧 2.2.2 定量分析原理 2.3 電子探針譜儀系統 2.3.1 波譜儀 2.3.2 能譜儀 2.3.3 能譜波譜一體機 2.4 定量分析的試樣和標樣 2.4.1 試樣要求 2.4.2 試樣製備方法 2.4.3 定量分析所使用的標樣 2.5 定量分析修正...
10.4 電子探針顯微分析(EPMA)技術的套用 第二篇 電子顯微分析 11 掃描電子顯微鏡 11.1 SEM的原理 11.2 SEM的結構 11.3 SEM的分類 11.4 SEM的性能 11.5 SEM的套用 11.6 SEM的形貌觀察 11.7 樣品製備 11.8 掃描透射電子顯微鏡(STEM)12 透射電子顯微鏡 12.1 透射電子顯微鏡系統結構與原理 12.2 ...
測試中心現有設備:透射電子顯微鏡、場發射電子掃描顯微鏡、掃描電子顯微鏡、電子探針、X射線衍射儀(Empyrean)、X射線衍射儀、X射線螢光光譜儀、直讀光譜儀、紅外碳硫分析儀、傅立葉紅外光譜儀、紫外可見近紅外分光光度計、徠卡金相顯微鏡、共聚焦顯微鏡、疲勞試驗機、超導強磁場裝置、DSC差熱分析系統、熱膨脹儀、振動...
第十四章電子背散射衍射分析 技術199 第一節概述199 第二節電子背散射衍射技術相關晶體學 取向基礎199 第三節電子背散射衍射技術硬體系統209 第四節電子背散射衍射技術原理及花樣 標定211 第五節電子背散射衍射技術成像及 分析215 第六節電子背散射衍射技術數據處理220 習題224 第十五章電子探針顯微分析225 第一節...
第十四章 電子背散射衍射分析技術 第一節 概述 第二節 電子背散射衍射技術相關晶體學取向基礎 第三節 電子背散射衍射技術硬體系統 第四節 電子背散射衍射技術原理及花樣標定 第五節 電子背散射衍射技術成像及分析 第六節 電子背散射衍射技術數據處理 習題 第十五章 電子探針顯微分析 第一節 電子探針儀的結構與...
掃描透射電子顯微鏡(scanning transmission electron microscopy,STEM)既有透射電子顯微鏡又有掃描電子顯微鏡的顯微鏡。STEM用電子束在樣品的表面掃描,通過電子穿透樣品成像。STEM技術要求較高,要非常高的真空度,並且電子學系統比TEM和SEM都要複雜。來源 掃描透射電子顯微鏡是指透射電子顯微鏡中有掃描附屬檔案者,尤其是指...
電子探針 利用電子顯微探針原理和技術來分析樣品的儀器。儀器構造:主要由電子光學系統(鏡筒),X射線譜儀和信息記錄顯示系統組成。1.電子光學系統 為了提高X射線的信號強度,電子探針必須採用較掃描電鏡更高的入射電子束流,常用的加速電壓為10-30 KV,束斑直徑約為0.5μm。電子探針在鏡筒部分加裝光學顯微鏡,以...
另外,透視電子顯微鏡的套用,使對礦物晶體缺陷及其地質力學和地質構造意義的研究又深入了一步。掃描電子顯微鏡景深大,能獲得三維圖像,二次電子圖像解析度小於10納米,能用來對樣品的形貌、成分、結晶學及其他性質進行觀察和分析。樣品不需專門製備,原始狀況不會受到破壞。電子探針顯微分析儀與掃描電子顯微鏡類似,但樣...
100kV分析電鏡,場發射槍掃描透射電鏡及能量選擇電鏡等,透射電鏡將又一次面臨新的重大突破;掃描電子顯微鏡方面主要有:分析掃描電鏡和X射線能譜儀、X射線波譜儀和電子探針儀、場發射槍掃描電鏡和低壓掃描電鏡、超大試樣室掃描電鏡、環境掃描電鏡、掃描電聲顯微鏡、測長/缺陷檢測掃描電鏡、晶體學取向成像掃描電子顯微術和...