電子探針系統是一種用於數學領域的分析儀器,於2013年6月1日啟用。
基本介紹
- 中文名:電子探針系統
- 產地:日本
- 學科領域:數學
- 啟用日期:2013年6月1日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器 > 電子探針
電子探針系統是一種用於數學領域的分析儀器,於2013年6月1日啟用。
電子探針系統是一種用於數學領域的分析儀器,於2013年6月1日啟用。技術指標儀器配置:四通道、八塊分光晶體 (其中包括用於測試B、C、N、O等輕元素的LDE1H、LDE2H晶體)電 子 槍: LaB6分 辨 率:5nm(...
如圖《電子探針示意圖》所示。結構特點 電子探針X射線顯微分析儀(簡稱電子探針)利用約1Pm的細焦電子束,在樣品表層微區內激發元素的特徵X射線,根據特徵X射線的波長和強度,進行微區化學成分定性或定量分析。電子探針的光學系統、真空系統等部分與掃描電鏡基本相同,通常也配有二次電子和背散射電子信號檢測器,同時兼...
電子探針顯微系統是一種用於化學、材料科學、物理學領域的分析儀器,於2019年6月30日啟用。技術指標 (1)二次電子像解析度:≤ 3 nm(加速電壓30 kV);(2)背散射電子像解析度:≤ 20 nm(拓撲像、成分像);(3)電子槍:肖特基場發射電子槍;(4)加速電壓:0.5~30 kV;(5)最大束流:≥3 μA;...
電子探針顯微分析系統是一種用於材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2015年12月1日啟用。技術指標 二次電子像解析度為5~6納米; 探針束流穩定度±0.15%/h; 元素成分檢測靈敏度可達10-6量級; 元素分析範圍5B~92U; 共5通道。主要功能 提供鋼鐵、有色金屬、環境、食品、化工、製藥、半導體、陶瓷及高分子...
《電子探針自動控制系統》是由中國地質大學(武漢)擔任第一完成單位,由金星、楊勇、陸琦、肖少泉、陸湘豫擔任主要完成人的科研項目。成果信息 成果摘要 "電子探針自動控制系統"是受地礦部科技司委託的"八五"國家重點新技術推廣號19923292-2。 在國內首次獨立研製成功全微機化電子探針控制可直接連線733探針使用,也...
《CAMEBAX—Micro型電子探針計算機系統的更新設計》是由南京地質礦產研究所實驗室擔任第一完成單位,由晁福為擔任主要完成人的科研項目。成果信息 成果摘要 電子探針是一種對物質成分做定量分析的大型儀器,用計算機控制其運行。由於早能和質量欠佳,經過近十年的使用,已經失效。電子探針主機也就不能究用一台民用微機...
X射線譜儀是電子探針的信號檢測系統,分為:能量分散譜儀(EDS),簡稱能譜儀,用來測定X射線特徵能量。波長分散譜儀(WDS),簡稱波譜儀,用來測定特徵X射線波長。WDS組成:波譜儀主要由分光晶體和X射線檢測系統組成。原理:根據布拉格定律,從試樣中發出的特徵X射線,經過一定晶面間距的晶體分光,波長不同的特徵X...
電子探針儀(圖1)主要包括:探針形成系統 (電子槍、加速和聚焦部件等)、X射線信號檢測系統和顯示、記錄系統、樣品室、高壓電源和掃描系統以及真空系統。套用領域 電子探針的最早套用領域是金屬學。對合金中各組成相、夾雜物等可作定性和定量分析,直觀而方便,還能較準確地測定元素的擴散和偏析情況。此外,它還可用於...
通過電子掃描同步系統和電子顯示,可使樣品中各種組成的分布情況,以放大的圖像直接顯示於螢光屏上。因此,電子探針X射線顯微分析儀是礦物研究工作中既能微觀觀察,又能同時分析微區成分的精密儀器。引用示例 學科:岩礦分析與鑑定 詞目:電子探針X射線顯微分析 英文:electron microprobe X-ray micro-analysis 釋文:它...
通過三維粒子模擬和理論分析,我們發現使用超快相對論電子束作為探針在適當條件下可以直接對加速結構成像,而且通過對圖像的反演可以準確獲得加速場的空間分布和幅值。本項目旨在通過深入的理論模擬和實驗研究,系統地發展基於超快電子探針的等離子尾場結構成像技術。通過該技術的運用,為諸多尾場加速物理過程的研究提供重要...
第2章 電子探針基礎 2.1 引言 2.2 電子探針分析 2.2.1 定性分析原理及技巧 2.2.2 定量分析原理 2.3 電子探針譜儀系統 2.3.1 波譜儀 2.3.2 能譜儀 2.3.3 能譜波譜一體機 2.4 定量分析的試樣和標樣 2.4.1 試樣要求 2.4.2 試樣製備方法 2.4.3 定量分析所使用的標樣 2.5 定量分析修正...
《加速器超快電子探針技術及其套用》是上海交通大學出版社2020年12月出版的書籍。本書為“十三五”國家重點圖書出版規劃項目“核能與核技術出版工程·先進粒子加速器系列”之一。內容簡介 本書為“十三五”國家重點圖書出版規劃項目“核能與核技術出版工程·先進粒子加速器系列”之一。主要內容包括超快科學及相關技術基本...
電子探針儀是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2017年06月05日啟用。技術指標 1. 二次電子像解析度:5nm,背散射電子像解析度:20nm(拓撲像、成分像);2. 加速電壓:0 ~ 30kV;束流範圍:10-5~ 10-12A;圖像放大倍數:×40~×300,000; 3. 波譜系統分析元素:5B - 92U;定量分析精度:...
片上測試探針系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2013年6月15日啟用。技術指標 探針台主體包括:移動台、禁止系統、探針、變溫系統、光學與數字成像系統等。 基本系統技術指標包括: 1、移動台 1.1、X-Y方向 移動範圍:203 mm x 203 mm;解析度: ± 1 μm (0.04 mils);精度: ≤ 2.5 μm (0...
《電子探針分析原理》是1990年科學出版社出版的圖書,作者是徐萃章。內容簡介 本書全面、系統地介紹了電子探針儀的工作原理、功能及套用。本書共十二章,第一、二章介紹電子探針儀的工作原理和設計要求;第三、四章敘述電子與靶極的互動作用、x光物理基礎;第五至十二章推導了修正公式井通過大量實例闡述數據分析的您正...
《微束分析硫化物礦物的電子探針定量分析方法》是2022年10月14日,由國家市場監督管理總局、國家標準化管理委員會發布的標準。2023年2月1日,《微束分析硫化物礦物的電子探針定量分析方法》標準開始實施。編制進程 2022年10月14日,《微束分析硫化物礦物的電子探針定量分析方法》標準發布。2023年5月1日,《微束分析...
“金銀貴金屬及其製品電子探針無損檢測方法”是湖南省地礦廳下達的科技開發項含金量檢測方法目前只有國標GB9288-88,但必須採用破壞性試驗,首飾該方法是無損檢測方法,適用於金銀貴金屬及其製品無損檢測,也可用金、鍍金製品。經現場檢測,該方法檢測速度快,可做到立等可取;檢達到99%以上,經檢驗,系統誤差不顯著(...
納米掃描探針測試系統是一種用於化學、材料科學、冶金工程技術、物理學領域的分析儀器,於2007年12月31日啟用。技術指標 1、測試噪聲:0.5Å(以零掃描方式驗證);2、樣品尺寸:x,y軸方向200mm,z軸25mm;3、掃描非線性:1.5%;4、x,y軸方向掃描:範圍90µm,最高解析度優於0.3nm;5、z軸方向掃描:範圍6...
開爾文探針掃描系統 開爾文探針掃描系統是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2017年5月8日啟用。技術指標 解析度:2毫米探針的功函解析度優於3 meV,50微米探針的功函解析度優於10 meV;掃描區域不小於:50×50毫米;位置解析度:0.4微米。主要功能 表面狀態分析,功函測量。
掃描電子顯微鏡是一種大型分析儀器,它廣泛套用於觀察各種固態物質的表面超微結構的形態和組成。所謂掃描是指在圖象上從左到右、從上到下依次對圖象象元掃掠的工作過程。它與電視一樣是由控制電子束偏轉的電子系統來完成的,只是在結構和部件上稍有差異而已。在電子掃描中,把電子束從左到右方向的掃描運動叫做行掃描...
儀器類別: 03040703 /儀器儀表 /光學儀器 /電子光學及離子光學儀器 指標信息: 三道X射線波譜儀和一台能譜儀,常用分光晶體有LIF PET TAP等。 X射線射角40°,放大倍率50~70000,加速電壓0~50kV. 二次電子圖像解析度70?,真空度:電子槍1×10-7乇,樣品室1×10-8乇。 Sun工作站Unix系統多任務多視窗操作...
真空探針台 真空探針台是一種用於數學領域的分析儀器,於2019年9月30日啟用。技術指標 真空度 SET。主要功能 在高真空環境下測試晶片。
實驗四 掃描電子顯微鏡斷口分析 實驗五 電子探針基本結構、工作原理及操作 第2章 掃描電子顯微鏡附屬設備結構、原理及操作 實驗一 能譜儀的基本結構、工作原理及操作 實驗二 電子背散射衍射儀的基本結構與工作原理 實驗三 電子背散射衍射數據採取操作 實驗四 電子背散射衍射數據分析處理 第3章 聚焦離子束系統結構、...
開爾文探針表面電荷掃描探測儀是一種用於化學、生物學、材料科學領域的分析儀器,於2017年12月11日啟用。技術指標 1.樣品台尺寸:樣品直徑≤70mm,厚度≤30mm;2.單一50μm大量程高精度掃描器,不更換小量程掃描器直接可達原子級分辨精度;3.鎖相放大系統: (1)內置專用雙通道鎖相放大器,可設定0~1.8MHz頻率...
半自動探針台是一種用於信息科學與系統科學領域的分析儀器,於2004年3月17日啟用。技術指標 支持4,5,6寸wafer 解析度0.25um 提供4個SMU接口,可同時輸出(測量)四路直流信號。 每個SMU最大輸出電壓100V(-100V),最大輸出電流1A 測量功率100V*10mA。 開路漏電流20fA。主要功能 通過和外接的測試儀器4156C...
電子收集透鏡 電子能量分析儀 μ合金磁場禁止 電子探測系統 適度真空的樣品艙室 樣品支架 樣品台 樣品台操控裝置 系統結構原理 X射線源是用Al或Mg作陽極的X射線管。 它們的光子能量分別是1486 eV和1254 eV 。 安裝過濾器(或稱單色器)是為了減小光子能量分散。離子槍的作用一方面是為了濺射清除樣品表面污染,以便...
電子探針 利用電子顯微探針原理和技術來分析樣品的儀器。儀器構造:主要由電子光學系統(鏡筒),X射線譜儀和信息記錄顯示系統組成。1.電子光學系統 為了提高X射線的信號強度,電子探針必須採用較掃描電鏡更高的入射電子束流,常用的加速電壓為10-30 KV,束斑直徑約為0.5μm。電子探針在鏡筒部分加裝光學顯微鏡,以...