納米掃描探針測試系統是一種用於化學、材料科學、冶金工程技術、物理學領域的分析儀器，於2007年12月31日啟用。
基本介紹
- 中文名：納米掃描探針測試系統
- 產地：美國
- 學科領域：化學、材料科學、冶金工程技術、物理學
- 啟用日期：2007年12月31日
- 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 電子探針
技術指標,主要功能,
技術指標
1、測試噪聲：0.5Å(以零掃描方式驗證)；2、樣品尺寸：x,y軸方向200mm,z軸25mm；3、掃描非線性：1.5%；4、x,y軸方向掃描：範圍90µm，最高解析度優於0.3nm；5、z軸方向掃描：範圍6µm，最高解析度優於0.05nm。
主要功能
1、具有AFM和STM功能；2、用於金屬、非金屬、生物、半導體等材料及相關領域的科學研究；3、用於檢測樣品表面的各種物理特性；4、可以觀察材料的表面粗糙度及微觀形貌。
