《電子探針分析原理》是1990年科學出版社出版的圖書，作者是徐萃章。
電子探針又稱微區X射線光譜分析儀、X射線顯微分析儀。其原理是利用聚焦的高能電子束轟擊固體表面，使被轟擊的元素激發出特徵X射線，按其波長及強度對固體表面微區進行定性及定量化學分析。主要用來分析固體物質表面的細小顆粒或微小區域，最小範圍直徑為1μm左右。分析元素從原子序數3（鋰）至92（鈾）。絕對感量可達...
電子探針方法是利用高能電子束對樣品進行成分分析的方法。基本原理是利用電磁透鏡聚焦的高能電子束轟擊固體表面的某一點，被轟擊的元素激發出特徵X射線，而特徵X射線輻射的頻率是發射元素原子序數的函式，因而通過對特徵X射線頻率和強度的分析便可得到樣品表面元素分布和形貌特徵。當前，電子探針是對無機和有機材料進行顯微...
其原理是：用細聚焦電子束入射樣品表面，激發出樣品元素的特徵X射線，分析特徵X射線的波長（或能量）可知元素種類；分析特徵X射線的強度可知元素的含量。其鏡筒部分構造和SEM相同，檢測部分使用X射線譜儀，用來檢測X射線的特徵波長（波譜儀）和特徵能量（能譜儀），以此對微區進行化學成分分析。X射線譜儀是電子探針的...
基本原理是電子束經過電子光學系統如靜電或電磁透鏡聚焦到樣品中約1平方微米的區域，樣品經電子束的轟擊，輻射出X射線；通過X射線譜儀，對待測元素X射線譜的波長和強度進行測量，逐點地定性和定量分析。通過電子掃描同步系統和電子顯示，可使樣品中各種組成的分布情況，以放大的圖像直接顯示於螢光屏上。因此，電子探針...
電子探針分析的原理是以電子束轟擊試樣表面，擊出表面組成元素的原子內層電子，使原子電離，此時外層電子迅速填補空位而釋放能量，從而產生特徵X射線。不同的元素有不同的X射線特徵波長和能量。通過鑑別其特徵波長或特徵能量就可以確定所分析的元素。電子探針有三種基本工作方式：一是點分析，用於選定點的全譜定性分析或...
電子微探針的結構原理為：由電子槍射出的高速電子流經過電子透鏡後聚焦成直徑為 1微米以下的微細電子束，其焦點落在樣品表面。樣品所產生的X射線由檢測器檢測。電子微探針與X射線分析儀的作用和結構基本相同，但是它靠掃描線圈的作用可使電子束在樣品表面上掃描，因此可以得到元素在樣品表面上的分布狀態，並顯示出圖象...
《電子探針分析原理》是1990年科學出版社出版的圖書，作者是徐萃章。內容簡介 本書全面、系統地介紹了電子探針儀的工作原理、功能及套用。本書共十二章，第一、二章介紹電子探針儀的工作原理和設計要求;第三、四章敘述電子與靶極的互動作用、x光物理基礎;第五至十二章推導了修正公式井通過大量實例闡述數據分析的您正...
電子探針將高度聚焦的電子束聚焦在礦物上，激發組成礦物元素的特徵X射線，再用分光器或檢波器測定螢光X射線的波長，並將其強度與標準樣品對比，或根據不同強度校正直接計數出組分含量。分類 1.單極式：電極式液位計是利用物料的導電性能測量高低液位。也可以用於導電性較弱的液體和潮濕固體。鍋爐電接點液位計的原理是...
1.7.1 環境掃描電鏡的成像原理 1.7.2 環境掃描電鏡的優缺點 1.8 掃描電聲顯微鏡 1.8.1 掃描電聲顯微鏡的發展 1.8.2 掃描電聲顯微鏡的工作原理 第2章 電子探針基礎 2.1 引言 2.2 電子探針分析 2.2.1 定性分析原理及技巧 2.2.2 定量分析原理 2.3 電子探針譜儀系統 2.3.1 波譜儀 2.3.2 能譜...
掃描透射電子顯微鏡是指透射電子顯微鏡中有掃描附屬檔案者，尤其是指採用場發射電子槍作成的掃描透射電子顯微鏡。掃描透射電子顯微分析是綜合了掃描和普通透射電子分析的原理和特點而出現的一種新型分析方式。掃描透射電子顯微鏡是透射電子顯微鏡的一種發展。掃描線圈迫使電子探針在薄膜試樣上掃描，與掃描電子顯微鏡不同之處在於...
另外，還可以在觀察形貌圖象的同時，對樣品任選微區進行分析；裝上半導體試樣座附屬檔案，通過電動勢象放大器可以直接觀察電晶體或積體電路中的PN結和微觀缺陷。由於不少掃描電鏡電子探針實現了電子計算機自動和半自動控制，因而大大提高了定量分析的速度。基本原理 掃描電子顯微鏡電子槍發射出的電子束經過聚焦後匯聚成點光源；...
《材料分析檢測技術》闡述了主要的材料分析檢測技術的基本原理、探測過程和處理技術。包括：材料分析檢測技術概述、X射線衍射分析、擴展X射線吸收精細結構譜分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微鏡和電子探針分析、掃描隧道顯微分析和原子力顯微分析、光電子能譜分析、俄歇電子能譜分析、原子光譜分析、分子光譜分析、拉曼光譜...
電子能量分析儀 μ合金磁場禁止 電子探測系統 適度真空的樣品艙室 樣品支架 樣品台 樣品台操控裝置 系統結構原理 X射線源是用Al或Mg作陽極的X射線管。 它們的光子能量分別是1486 eV和1254 eV 。 安裝過濾器（或稱單色器）是為了減小光子能量分散。離子槍的作用一方面是為了濺射清除樣品表面污染，以便得到清潔表面，...
電子探針在分析合金中第二相的成分、偏析、晶界與表層成分方面用途很廣（見界面）。研究儀器 金屬和合金的微觀分析X射線能譜儀 主要由半導體探測器及多道分析器或微處理機組成（圖3），用以將在電子束作用下產生的待測元素的標識 X射線按能量展譜(圖4)。X射線光子由矽滲鋰 Si(Li)探測器接收後給出電脈衝信號...
實驗一 掃描電子顯微鏡的基本結構與工作原理介紹 實驗二 二次電子襯度原理與形貌分析 實驗三 背散射電子分析與襯度原理 實驗四 掃描電子顯微鏡斷口分析 實驗五 電子探針基本結構、工作原理及操作 第2章 掃描電子顯微鏡附屬設備結構、原理及操作 實驗一 能譜儀的基本結構、工作原理及操作 實驗二 電子背散射衍射儀的...
6.2.1 工作原理90 6.2.2 分光系統91 6.2.3 檢測系統93 6.2.4 波譜儀的特點94 6.3 能譜儀的工作原理與結構95 6.3.1 工作原理95 6.3.2 X射線探測器95 6.3.3 多道脈衝高度分析器96 6.3.4 能譜儀的特點96 6.3.5 WDS與EDS工作特性比較97 6.4 電子探針的分析方法及套用98 6.4.1 定點...
離子探針是指利用氣體產生的離子轟擊樣品表面，對激發出的二次離子進行化學元素及同位素成分分析的儀器。從氯到鈾的元素均可用離子探針進行分析，補充了電子探針元素分析範圍有限及靈敏度偏低的不足。離子探針可進行表面分析、近淺表面的深度分析、體積分析和圖象分析，但定量的精度不如電子探針。詞目：離子探針 釋文：...
《寶石材料分析方法/高等學校寶石及材料工藝學系列教材》內容的安排與編寫力圖實現本課程的教學目的：使學生對寶石材料的各種現代分析方法有一個初步的、較全面的認識和了解；使學生了解衍射分析、分子光譜分析、電子探針分析等方法的基本原理和過程及套用，掌握相應的基本知識、基本技能及必要的理論基礎，從而使學生學習本...
第十四章電子背散射衍射分析 技術199 第一節概述199 第二節電子背散射衍射技術相關晶體學 取向基礎199 第三節電子背散射衍射技術硬體系統209 第四節電子背散射衍射技術原理及花樣 標定211 第五節電子背散射衍射技術成像及 分析215 第六節電子背散射衍射技術數據處理220 習題224 第十五章電子探針顯微分析225 第一節...
探針分析 EMPA--Electron microprobe analysis 基本原理 電子顯微探針是指用聚焦很細的電子束照射要檢測的樣品表面，用X射線分光譜儀測量其產生的特徵X射線的波長和強度。由於電子束照射面積很小，因而相應的X射線特徵譜線將反映出該微小區域內的元素種類及其含量。利用特徵X射線波長來確定元素的叫做波譜儀（WDS），利用...
第3章顯微分析技術(260)3.1電子探針X射線微區分析(260)3.1.1電子探針分析原理(261)3.1.2電子探針X射線顯微分析儀的結構(262)3.1.3電子探針的檢測技術(267)3.1.4電子探針的套用(268)3.1.5電子探針顯微分析的特點(275)3.1.6資料(276)參考文獻(276)3.2掃描電子顯微分析(278)3.2.1掃描電子顯微鏡...
可以探測電子探針顯微分析方法檢測極限以下的微量元素，研究其局部分布和偏析。可以作為同位素分析。可以分析極薄表面層和表面吸附物，表面分析時可以進行縱向的濃度分析。成像離子探針適用於許多不同類型的樣品分析，包括金屬樣品、半導體器件、非導體樣品，如高聚物和玻璃產品等。廣泛套用於金屬、半導體、催化劑、表面、薄膜...
4.4.1 電子探針的工作原理和結構 4.4.2 X射線譜儀 4.4.3 電子探針的分析方法 4.5 電鏡的近期發展 4.5.1 高分辨電鏡 4.5.2 超高壓電鏡 4.5.3 掃描透射電鏡 4.5.4 分析電鏡 4.5.5 低真空掃描電鏡 4.5.6低電壓掃描電鏡 習題與思考題 5 熱分析 5.1 概述 5.1.1 熱分析的術語定義與分類 ...
相相界，是學科名詞。合金相圖測定與相圖計算研究：用擴散偶電子探針微區成分分析技術高效、準確地測定金屬合金相圖，根據在合金相記憶體在元素化學位梯度以及合金相界存在元素化學位局部平衡的原理發展了測定難熔金屬合金四元等溫等碳活度相圖的研究方法；採用部分二元相圖熱力學數據，用CALPHAD方法最佳化、計算三元合金相圖。...
