《微束分析 電子探針顯微分析(EPMA) 術語(GB/T 21636-2008)(ISO 23833:2006)》等同採用國際標準ISO 23833： 2006《微束分析 電子探針顯微分析（EPMA） 術語》（英文版）。為了便於使用，本標準做了下列編輯性修改：5.7.5的注中對ISO 23833：2006勘誤將“Z>43”改為“Z>4”；刪除了法文版。 《微束分析 電子探針顯微分析(EPMA) 術語(GB/T 21636-2008)(ISO 23833:2006)》由全國微柬分析標準化技術委員會提出並歸口。
基本介紹
- 書名：微束分析 電子探針顯微分析
- 作者：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
- 出版日期：2008年7月1日
- 語種：簡體中文
- ISBN：155066132059
- 外文名：Microbeam Analysis-Electron Probe Microanalysis (EPMA)-Vocabulary
- 出版社：中國標準出版社
- 頁數：35頁
- 開本：16
- 品牌：北京勁松建達科技圖書有限公司
《微束分析 電子探針顯微分析(EPMA) 術語(GB/T 21636-2008)(ISO 23833:2006)》由中國標準出版社出版。
