《電子探針X射線顯微分析》是1973年4月科學出版社出版的圖書，作者是劉永康。
基本介紹
- 中文名：電子探針X射線顯微分析
- 作者：劉永康
- 出版時間：1973年4月
- 出版社：科學出版社
- 統一書號：1503147
圖書簡介,圖書目錄,
圖書簡介
本書部分根據美國伯克斯1963年所著的《電子探針顯微分析》一書編譯而成。全書共分九章，其中介紹了電子探針技術的發展歷史、現狀及今後的展望，較全面地敘述了電子探針儀的結構和分析方法的基本原理。補充了編譯者從自己多年分析礦物樣品中所得的一些資料，列舉了若干典型分析實例和一些分析方法。
電子探針X射線顯微分析技術是六十年代發展起來的新技術，是專門進行微粒微量成份分析的有效方法。它可以分析小至—立方微米的固體樣品，而且通過電子掃描技術能直接顯示金屬、礦石、材料的微觀結構和元素分布。
此書可供現代材料工業部門、冶金、地質、選礦、化學、醫藥等基礎工業部門，以及有關科研部門的分析工作者套用和參考。
圖書目錄
- 目錄
- 前言
- 第一章 導論
- 第二章 電子光學及線路
- 第三章 X射線晶體光學
- 第四章 X射線探測器與能譜分析
- 第五章 定量分析的物理基礎
- 第六章 樣品類型和製備
- 第七章 樣品觀察和分析程式
- 第八章 定量分析及有關問題
- 第九章 套用舉例
- 附錄
