電子探針微區分析又稱電子探針顯微分析，是試樣非破壞性微區化學元素定性定量分析方法。
基本介紹
- 中文名：電子探針微區分析
- 別名：電子探針顯微分析
介紹
試樣直徑在1 m、體積 T 1 um3範圍，以直徑Cf . 一lum的電子束激發，其中各種元素受激發射出特徵x射線。以此確定微區中所含化學元素， 並根據其強度進行定量分析。可用顯微鏡確定試樣某一位置 上的組分及組分的空間分布
電子探針微區分析又稱電子探針顯微分析，是試樣非破壞性微區化學元素定性定量分析方法。
電子探針微區分析又稱電子探針顯微分析，是試樣非破壞性微區化學元素定性定量分析方法。介紹試樣直徑在1 m、體積 T 1 um3範圍，以直徑Cf . 一lum的電子束激發，其中各種元素受激發射出特徵x射線。以此確定微區中所含...
電子探針（Electron Probe Microanalysis-EPMA）的主要功能是進行微區成分分析。它是在電子光學和X射線光譜學原理的基礎上發展起來的一種高效率分析儀器。其原理是：用細聚焦電子束入射樣品表面，激發出樣品元素的特徵X射線，分析特徵X射線的波長（或能量）可知元素種類；分析特徵X射線的強度可知元素的含量。其鏡筒部分...
電子探針分析是指以聚焦的高速電子來激發出試樣表面組成元素的特徵X射線，對微區成分進行定性或定量分析的一種材料物理試驗，又稱電子探針X射線顯微分析。電子探針分析的原理是：以動能為10～30千電子伏的細聚焦電子束轟擊試樣表面，擊出表面組成元素的原子內層電子，使原子電離，此時外層電子迅速填補空位而釋放能量，...
1、能進行微區分析。可分析數個μm³內元素的成分。2、能進行現場分析。無需把分析對象從樣品中取出，可直接對大塊試樣中的微小區域進行分析。把電子顯微鏡和電子探針結合，可把在顯微鏡下觀察到的顯微組織和元素成分聯繫起來。3、分析範圍廣。Z>4其中，波譜：Be~U，能譜：Na~U。功能特色 電子探針可以對試樣中...
電子微探針（Electronic microprobe），結合運用電子顯微鏡技術和 X射線分光技術的電子光學式分析儀器，又稱電子微區分析儀、電子探針或電子探針X射線微區分析儀。主要特徵 在涉及研究固態試樣元素組分及濃度的二維分布時，常用的一種方法是電子微探針。電子微探針中的電子束斑直徑可達到0.1μm，但要求試樣厚度在0.1μ...
詞目：電子探針X射線顯微分析 英文：electron microprobe X-ray micro-analysis 釋文：它能分析直徑為1微米的物質，檢出限可低至10^-14～10^-15克。樣品分析後，不被破壞，屬非破壞性分析。套用已相當廣泛，主要用於岩石礦物的深度分析，如與薄片鑑定結合，檢測未知礦物及難辨礦物——片鈉鋁石、鈉沸石、皂石……...
較早使用的技術有雷射光譜、電子探針和各類電鏡。發展起來的有雷射燒蝕等離子質譜、二次離子探針質譜、掃描核探針和同步輻射X射線探針等。微區分析主要有兩種工作方式：一是定點分析，二是掃描分析。隨著各種微束技術的進步和地學微觀研究的需要，礦物岩石的微區、微粒研究得到迅速發展。microscopic analysis ...
電子探針X射線顯微分析儀，簡稱電子探針。是指以聚焦的高速電子來激發出試樣表面組成元素的特徵X射線，並根據X射線的波長和強度，對微區成分進行定性或定量分析的一種材料物理儀器。電子探針分析的原理是以電子束轟擊試樣表面，擊出表面組成元素的原子內層電子，使原子電離，此時外層電子迅速填補空位而釋放能量，從而產生...
微區成分分析技術在物理學、化學、地學、材料科學、生命科學等領域內，得到了廣泛的套用。電子探針 用能量幾萬電子伏直徑約1微米的電子微束，在樣品表面取樣深度近1微米的微區內激發出標識X射線，由其能量和強度來識別組成的元素和含量。探測極限為10—10克，可用於探測原子序數大於或等於4的元素。定量分析精確度近...
電子探針診斷法，是指利用電子掃描顯微裝置進行植物體內元素微區分析，確定元素的種類、含量、分布等，揭示植物樣本的組織結構與元素間的原位關係，判斷植物營養狀況的方法。電子探針具有面掃描、線掃描和點分析的功能。因此，可用來解決植物營養診斷中一般化學分析無法解決的問題，如元素的定位、元素缺乏或過剩以及病理病引...
用它可以得到樣品內空間解析度為1微米的成分信息。電子探針還可獲得X射線掃描圖像，顯示出掃描區域內的元素分布，而且可以對感興趣的不同區域的相對成分作比較。由於此法能分析原子序數3到92號之間的所有元素，因而已被廣泛用於地質、冶金、材料和生物學等各個領域的研究。
由於此種方法具有快捷，樣品基本無損傷，已成為類質同象礦物和新、雜、微、細礦物研究所不可缺乏的手段。70年代以來，我國新發現，並獲國際承認的60多種新礦物中，有一半多是經電子探針發現和研究過的。電子探針在岩石學、隕石、礦物藥物及寶石研究中均起著重要作用。電子探針分析將向電子束更精細、定量精度提高等...
電子探針微分析儀是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2013年11月27日啟用。技術指標 電子束加速電壓0.1-30kV,電流10-12~10-6A；背散射電子圖像解析度小於20nm（15kV）；真空系統樣品倉1*10-3Pa；RAP/LSA70/PbST/LSA120/LiF/PET/ADP分光晶體4道8塊；X射線角52.5度。主要功能 1、分析元素範圍5B-92U；2、...
微區化學成分分析，用電子微探針和雷射微探針技術等，不破壞試樣而進行表血和一定深度的分析方法。簡介 用電子微探針和雷射微探針技術等，不破壞試樣而進行表血和一定深度的分析方法。它需要特殊的儀器。如俄歇電子光譜，x射線電光譜，二次離子質i透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡等都是微區和表面分析的主要儀器。AE5...
《大氣氣溶膠單顆粒分析——電子探針微區分析技術套用》是2018年6月1日科學出版社出版的圖書，作者是耿紅。內容簡介 本書在詳細闡述電子探針微區分析技術原理和測量過程的基礎上，重點介紹它在大氣氣溶膠形貌觀察和化學成分分析中的套用，尤其對基於能量色散X射線譜儀的電子探針微區分析技術的定量化過程，在測量特殊...
2021年5月21日，《微束分析 電子探針顯微分析 標準樣品技術條件導則》由國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會發布，並於2021年12月1日實施。修訂信息 2021年5月21日，《微束分析 電子探針顯微分析 標準樣品技術條件導則》由國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會發布，並於2021年12月1日實施。...
《微束分析 電子探針顯微分析(EPMA) 術語(GB/T 21636-2008)(ISO 23833:2006)》等同採用國際標準ISO 23833： 2006《微束分析 電子探針顯微分析（EPMA） 術語》（英文版）。為了便於使用，本標準做了下列編輯性修改：5.7.5的注中對ISO 23833：2006勘誤將“Z＞43”改為“Z＞4”；刪除了法文版。 《微束分析 ...
電子探針分析儀：1.進行1微米內B-U的各元素定量分析 2.20～20萬倍掃描圖像觀察 3.X射線能譜快速定量分析 4.陰極射線致發光分析套用範圍： 用於對地質、冶金、有色、玻璃、陶瓷、新材料、納米材料等機材料的分析。可解決地質、冶金、有色、材料、機械等領域內的許多科研、生產等重大實際問題。儀器類別 0304070201...
電子探針波譜與能譜，是用於對物質微區成分進行微束分析的技術。電子探針能譜是來自樣品的X光子通過鈹視窗進入鋰漂移矽固態檢測器。而電子探針波譜是由分光晶體所分散的單一波長X射線被X射線檢測器接受，常用的檢測器一般是正比計數器。釋文 基本物理原理 運用電子探針發射具有10^3～10^4量級電子伏的電子微束，轟擊...
電子探針分析技術虛擬實驗是吉林大學建設的虛擬仿真實驗課程。課程性質 課程背景 實驗的必要性和實用性:電子 探針是昂貴的大型精密分析儀器，利用聚焦很細的高能電子束激發試樣，通過電子束與試樣表面相互作用產生的二次電子、特徵X射線、背散射電子等信息來分析試樣微區內的成分、形貌和化學結合狀態等特徵。它廣泛套用於...
本書部分根據美國伯克斯1963年所著的《電子探針顯微分析》一書編譯而成。全書共分九章，其中介紹了電子探針技術的發展歷史、現狀及今後的展望，較全面地敘述了電子探針儀的結構和分析方法的基本原理。補充了編譯者從自己多年分析礦物樣品中所得的一些資料，列舉了若干典型分析實例和一些分析方法。電子探針X射線顯微分析...
電子探針顯微鏡分析儀 電子探針顯微鏡分析儀是一種用於地球科學、材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器，於2010年3月4日啟用。技術指標 定性和定量分析B-U之間的元素，配備1道能譜儀和3道波譜儀，檢測限0.01%。主要功能 礦物固體材料微區圖像分析、成分定量分析。
《材料分析測試方法》是國防工業出版社出版的一本書籍，該書主要介紹材料的X射線衍射分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微鏡分析和電子探針微區分析，同時簡要介紹了光譜分析、掃描探針顯微鏡和X射線光電子能譜。內容簡介 X射線衍射分析內容包括X射線物理學基礎、X射線衍射原理、多晶材料X射線衍射分析方法和部分X射線衍射...
《電子探針分析原理》是1990年科學出版社出版的圖書，作者是徐萃章。內容簡介 本書全面、系統地介紹了電子探針儀的工作原理、功能及套用。本書共十二章，第一、二章介紹電子探針儀的工作原理和設計要求;第三、四章敘述電子與靶極的互動作用、x光物理基礎;第五至十二章推導了修正公式井通過大量實例闡述數據分析的您正...
電子探針系統是一種用於數學領域的分析儀器，於2013年6月1日啟用。技術指標 儀器配置：四通道、八塊分光晶體 （其中包括用於測試B、C、N、O等輕元素的LDE1H、LDE2H晶體）電 子 槍： LaB6分 辨 率：5nm（SEI）加速電壓：0.2-30kV探針束流：10-12-10-5A放大倍數：40-30萬倍元素範圍：B(5)-U(92)。主...
電子探針顯微鏡用於地質、冶金、電子、建材、環境科學、半導體及材料科學等樣品，可做固體樣品的微區定性和定量分析。主要用途： 用於地質、冶金、電子、建材、環境科學、半導體及材料科學等樣品，可做固體樣品的微區定性和定量分析，X射線線面掃描及背散射與二次電子圖像等分析，包括： 1.元素定性和定量分析，可做礦物...
1962 年R.卡斯塔因和G.斯洛贊在質譜法和離子顯微技術基礎上研製成了直接成像式離子質量分析器。1967 年H.利布爾在電子探針概念的基礎上，用離子束代替電子束，以質譜儀（見質譜法）代替X 射線分光計研製成掃描式離子探針質量顯微分析儀。儀器 主要包括四部分：①能夠產生加速和聚焦一次離子束的離子源；②樣品室和二...
電子探針 利用電子顯微探針原理和技術來分析樣品的儀器。儀器構造：主要由電子光學系統（鏡筒），X射線譜儀和信息記錄顯示系統組成。1.電子光學系統 為了提高X射線的信號強度，電子探針必須採用較掃描電鏡更高的入射電子束流，常用的加速電壓為10-30 KV，束斑直徑約為0.5μm。電子探針在鏡筒部分加裝光學顯微鏡，以...
微量分析儀 目錄 1 短語搭配 2 雙語例句 microanalyzer短語搭配 編輯 播報 ionoprobe microanalyzer 離子探針微區分析器 electron probe microanalyzer 電子探針微量分析器 electron probe microanalyzer epma 電子探針 [1] microanalyzer雙語例句 編輯 播報 The...