電子探針顯微鏡分析儀是一種用於地球科學、材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2010年3月4日啟用。
基本介紹
- 中文名:電子探針顯微鏡分析儀
- 產地:日本
- 學科領域:地球科學、材料科學、冶金工程技術
- 啟用日期:2010年3月4日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器 > 電子探針
電子探針顯微鏡分析儀是一種用於地球科學、材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2010年3月4日啟用。
電子探針顯微鏡分析儀 電子探針顯微鏡分析儀是一種用於地球科學、材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2010年3月4日啟用。技術指標 定性和定量分析B-U之間的元素,配備1道能譜儀和3道波譜儀,檢測限0.01%。主要功能 礦物固體材料微區圖像分析、成分定量分析。
第一台電子探針是法國製成的,是在1949年用電子顯微鏡和X射線光譜儀組合而成。1953年前蘇聯製成了X射線微區分析儀,以後英、美等國陸續生產。第一台掃描電子探針儀是美國於1960年製成,不僅能對試樣作點或微區分析,而且能對樣品表面微區進行掃描。原子序數12至22的元素要在真空下進行成分測定,原子序數12以內的...
電子微探針(Electronic microprobe),結合運用電子顯微鏡技術和 X射線分光技術的電子光學式分析儀器,又稱電子微區分析儀、電子探針或電子探針X射線微區分析儀。主要特徵 在涉及研究固態試樣元素組分及濃度的二維分布時,常用的一種方法是電子微探針。電子微探針中的電子束斑直徑可達到0.1μm,但要求試樣厚度在0.1μ...
詞目:電子探針X射線顯微分析 英文:electron microprobe X-ray micro-analysis 釋文:它能分析直徑為1微米的物質,檢出限可低至10^-14~10^-15克。樣品分析後,不被破壞,屬非破壞性分析。套用已相當廣泛,主要用於岩石礦物的深度分析,如與薄片鑑定結合,檢測未知礦物及難辨礦物——片鈉鋁石、鈉沸石、皂石……...
電子探針儀是 X射線光譜學與電子光學技術相結合而產生的。1948年法國的R.卡斯坦製造了第一台電子探針儀。1958年法國首先製造出商品儀器。電子探針儀與掃描電子顯微鏡在結構上有許多共同處。70年代以來生產的電子探針儀上一般都帶有掃描電子顯微鏡功能,有的還附加另一些附屬檔案,使之除作微區成分分析外,還能觀察和研究...
裝上波長色散X射線譜儀(WDX)或能量色散X射線譜儀(EDX),使具有電子探針的功能,也能檢測樣品發出的反射電子、X射線、陰極螢光、透射電子、俄歇電子等。把掃描電鏡擴大套用到各種顯微的和微區的分析方式,顯示出了掃描電鏡的多功能。另外,還可以在觀察形貌圖象的同時,對樣品任選微區進行分析;裝上半導體試樣座...
6000系列分析探針台是一種用於信息科學與系統科學、物理學、核科學技術、電子與通信技術領域的分析儀器,於1998年1月1日啟用。技術指標 1、測量平台和顯微鏡精密手動控制,亞微米解析度的平台控制。2、平台4×4範圍x-y移動。3、顯微鏡x-y-z移動,1×1×2範圍。4、避光測量。5、平台可加熱至400℃。6、大視角...
掃描霍爾探針顯微鏡是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2017年9月15日啟用。技術指標 PI feedback loop with additional PLL contact mode, non-contact mode, high-resolution MFM mode, EFM, SGM 3 x 3 x 2.5 mm3 @ 300 K: 0.025~2 μm @ 4 K: 10 500 nm;30 x 30 x 5 μm3 12 x...
另外,透視電子顯微鏡的套用,使對礦物晶體缺陷及其地質力學和地質構造意義的研究又深入了一步。地質儀器 觀察和分 掃描電子顯微鏡景深大,能獲得三維圖像,二次電子圖像解析度小於10納米,能用來對樣品的形貌、成分、結晶學及其他性質進行觀察和分析。樣品不需專門製備,原始狀況不會受到破壞。電子探針顯微分析儀與掃描電子...
另外,透視電子顯微鏡的套用,使對礦物晶體缺陷及其地質力學和地質構造意義的研究又深入了一步。掃描電子顯微鏡景深大,能獲得三維圖像,二次電子圖像解析度小於10納米,能用來對樣品的形貌、成分、結晶學及其他性質進行觀察和分析。樣品不需專門製備,原始狀況不會受到破壞。電子探針顯微分析儀與掃描電子顯微鏡類似,但樣品...
技術指標 解析度:二次電子(SE)像 15 kV時優於1.0 nm;1 kV時優於1.4 nm(非減速模式) 背散射(BSE)像: 1 kV時優於3.5 nm;15 kV時優於2.0 nm 放大倍率範圍:1 ~ 1,000,000倍。主要功能 材料的微觀組織觀察、夾雜物形態及定性分析、斷口形貌觀察以及微區成分分析等。
離子探針質量顯微分析儀 ionmicroprobemassanalyzer 簡介 簡稱離子探針。簡史 套用離子照射樣品產生二次離子的基礎研究工作最初是R.H.斯隆(1938)和R.F.K.赫佐格(1949)等人進行的。1962年R.卡斯塔因和G.斯洛贊在質譜法和離子顯微技術基礎上研製成了直接成像式離子質量分析器。1967年H.利布爾在電子探針概念的基礎上...
環境型掃描探針顯微鏡 環境型掃描探針顯微鏡是一種用於數學領域的分析儀器,於2012年12月01日啟用。技術指標 150um*150um,120K-500K, SPM的所有功能。主要功能 溫度從120K-500 K可調,可以在不同氣氛下觀察。
化學力顯微鏡是一種用於化學、生物學、藥學領域的分析儀器,於2009年9月8日啟用。技術指標 掃描範圍:水平方向≤100μm,垂直方向≤8μm 噪音水平:水平方向≤1nmRMS,垂直方向≤0.1nmRMS 樣品尺寸:開放式平台系統,提供各種超大樣品的測量。主要功能 廣泛套用於生命科學、材料科學、物理和化學等領域,可在大氣及...
《顯微分析技術資料彙編》是1978年科學出版社出版的圖書。內容簡介 本書收集了五篇文章.第一篇《電子光學微觀分析儀器概述》,在討論電子與物質的互動作用以及產生的各種信息(如彈性散射電子、二次電子、俄歇電子、特徵X射線等)的基礎上,簡單介紹透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡電子探針微分析儀、俄歇電子能譜儀等...
JJG901-1995電子探針分析儀 《JJG901-1995電子探針分析儀》是由中國計量出版社出版的書籍。2005年9月8日確認
第1章 掃描電子顯微鏡和電子探針的結構、原理及操作 實驗一 掃描電子顯微鏡的基本結構與工作原理介紹 實驗二 二次電子襯度原理與形貌分析 實驗三 背散射電子分析與襯度原理 實驗四 掃描電子顯微鏡斷口分析 實驗五 電子探針基本結構、工作原理及操作 第2章 掃描電子顯微鏡附屬設備結構、原理及操作 實驗一 能譜儀的基本...
雷射手動分析探針台是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器,於2010年1月2日啟用。技術指標 New-WaveEzlaze3Green/UV3laser:雷射波長532nm,355nm可切換,雷射能量不小於0.6mJ每脈衝,三種運行模式,單發,連續(1Hz),集中(最大持續10s,重複頻率5Hz)。MitutoyoFS-70鏡像顯微鏡:目鏡:10倍;物鏡2、10、20、50倍;N...
土壤超顯微技術 土壤超顯微技術是1998年公布的土壤學名詞。定義 套用電子顯微鏡、電子探針等電子光學儀器,在超微(nm—mm)範圍內觀察土壤顯微形貌、土壤礦物晶體結構,分析土壤微區成分的技術。出處 《土壤學名詞》。
1.8 掃描電聲顯微鏡 1.8.1 掃描電聲顯微鏡的發展 1.8.2 掃描電聲顯微鏡的工作原理 第2章 電子探針基礎 2.1 引言 2.2 電子探針分析 2.2.1 定性分析原理及技巧 2.2.2 定量分析原理 2.3 電子探針譜儀系統 2.3.1 波譜儀 2.3.2 能譜儀 2.3.3 能譜波譜一體機 2.4 定量分析的試樣和標樣 2.4....
3.2電子的非彈性散射 3.2.1特徵X射線 3.2.2二次電子 3.2.3背散射電子 3.2.4俄歇電子 3.2.5陰極螢光 3.2.6透射電子 3.2.7電漿激發 3.2.8聲子激發 3.3輻照損傷 第4章電子衍射 第5章複雜電子衍射譜 第6章透射顯微術電子像襯度原理 第7章掃描電子顯微鏡 第8章電子探針顯微分析儀和微分析 ...
不僅如此,電子顯微鏡還發展成為一個全面的微束分析儀器,既能觀察幾個埃(┱)的微觀細節,還能進行幾十埃範圍的晶體結構分析(選區或微束電子衍射)和成分分析(X射線譜或電子能量損失譜)。X射線波譜和電子探針 聚焦的電子束照射到試樣上,使其中的原子失掉核外電子而處於激發的電離態(圖2a),這是不穩定的,外層...
microanalyser,英語單詞,主要用作名詞,作名詞時譯為“微量分析儀(等於microanalyzer)”。短語搭配 optical microanalyser 光學微分析器 electron probe microanalyser 電子探針顯微分析儀 ion probe microanalyser 離子探針微量分析器 electron image amplifier microscope microanalyser 電子顯微鏡分析器 雙語例句 The cross...