電子探針分析儀:1.進行1微米內B-U的各元素定量分析 2.20~20萬倍掃描圖像觀察 3.X射線能譜快速定量分析 4.陰極射線致發光分析套用範圍: 用於對地質、冶金、有色、玻璃、陶瓷、新材料、納米材料等機材料的分析。可解決地質、冶金、有色、材料、機械等領域內的許多科研、生產等重大實際問題。
基本介紹
- 中文名:電子探針分析儀
- 類型:分析儀
- 儀器類別:儀器儀表 /光學儀器
- 附屬檔案信息:能譜儀一台陰極發光一台
電子探針分析儀:1.進行1微米內B-U的各元素定量分析 2.20~20萬倍掃描圖像觀察 3.X射線能譜快速定量分析 4.陰極射線致發光分析套用範圍: 用於對地質、冶金、有色、玻璃、陶瓷、新材料、納米材料等機材料的分析。可解決地質、冶金、有色、材料、機械等領域內的許多科研、生產等重大實際問題。
電子探針分析儀:1.進行1微米內B-U的各元素定量分析 2.20~20萬倍掃描圖像觀察 3.X射線能譜快速定量分析 4.陰極射線致發光分析套用範圍: 用於對地質、冶金、...
電子探針分析是指以聚焦的高速電子來激發出試樣表面組成元素的特徵X射線,對微區成分進行定性或定量分析的一種材料物理試驗,又稱電子探針X射線顯微分析。電子探針分析...
電子探針是一種利用電子束作用樣品後產生的特徵X射線進行微區成分分析的儀器,可以用來分析薄片中礦物微區的化學組成。除H、He、Li、Be等幾個較輕元素外,還有U...
電子探針X射線顯微分析儀,簡稱電子探針。是指以聚焦的高速電子來激發出試樣表面組成元素的特徵X射線,並根據X射線的波長和強度,對微區成分進行定性或定量分析的一種...
離子探針分析儀,即離子探針(Ion Probe Analyzer,IPA),又稱二次離子質譜(Secondary Ion Mass Spectrum,SIMS),是利用電子光學方法把惰性氣體等初級離子加速並聚焦成...
電子探針X射線微區分析(EPMA)Electron Probe X-ray Microanalysis是用聚焦極細的電子束轟擊固體的表面,並根據微區內所發射出X射線的波長( 或能量)和強度進行定性...
JJG901-1995電子探針分析儀編輯 鎖定 本詞條缺少名片圖,補充相關內容使詞條更完整,還能快速升級,趕緊來編輯吧!2005年9月8日確認 ...
電子探針顯微鏡用於地質、冶金、電子、建材、環境科學、半導體及材料科學等樣品,可做固體樣品的微區定性和定量分析。...
如靜電或電磁透鏡聚焦到樣品中約1平方微米的區域,樣品經電子束的轟擊,輻射出X射線;通過X射線譜儀,對待測元素X射線譜的波長和強度進行測量,逐點地定性和定量分析...
介紹 電子探針微區分析。lec}rarrrnicrnprobe analysis;clectron- prn6e rnicraanalysi、又稱電子探針顯微分析試樣非破壞 性微區化學元素定性定量分析方法。試樣...
礦物電子探針顯微分析法是用電子探針顯微分析技術測定礦物化學成分的物理方法。以聚焦電子束為激發源,轟擊礦物表面時,電子與礦物表面的原子發生複雜的電子吸收、反射、...
離子探針質量顯微分析儀(ion microprobemass analyzer),以聚焦很細(1~2 微米)的高能(10~20 千電子伏)一次離子束作為激發源照射樣品表面,使其濺射出二次離子並...
《微束分析 電子探針顯微分析(EPMA) 術語(GB/T 21636-2008)(ISO 23833:2006)》等同採用國際標準ISO 23833: 2006《微束分析 電子探針顯微分析(EPMA) 術語》(...
《矽酸鹽礦物的電子探針定量分析方法(GB/T 15617-2002)》由全國微束分析標準化技術委員會提出。由全國微束分析標準化技術委員會歸口。由中國地質科學院礦產資源研究...
《船舶黑色金屬腐蝕層的電子探針分析方法》代替GB/T 17506—1998《船舶黑色金屬腐蝕層的電子探針分析方法》。本標準與GB/T 17506—1998相比主要變化如下:對適用範圍...
X射線螢光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線,它包含了被分析樣品化學組成...擁有波長色散、能量色散、電子探針、全反射、同步輻射和質子 X 射線光譜儀等一...
《分析儀器與儀器分析概論》是2005年化學工業出版社出版的圖書,作者是鄧勃。 [1...3.11.3 電子探針顯微分析法3.12 核分析方法3.12.1 活化分析法...
大連理工大學材料測試分析中心是我校2001年以“九五”、“211 工程”和“985...電子探針、X射線衍射儀(Empyrean)、X射線衍射儀、X射線螢光光譜儀、直讀光譜儀...
哈爾濱工業大學分析測試中心(以下簡稱中心)是為全校提供分析測試服務的教學科研基地...電子探針X射線顯微分析儀振動控制系統動態信號分析儀電液伺服材料試驗機(MTS-810...
第一篇 X射線螢光分析第一章 X射線物理學第二章 波長色散x射線螢光光譜儀的...第四章 電子探針x射線顯微分析第五章 電鏡的發展主要參考文獻第四篇 紫外-可見...
異物分析主要涉及三個方面,一是異物的有機物結構分析,主要用紅外顯微鏡-FTIR;二是異物或材料表面的元素成分分析,主要用電子探針(EPMA)、掃描電鏡能譜儀(SEM-EDX)...
17 1978 全國科學大會獎 專項獎 XW-01型電子探針X射線顯微分析儀 18 1978 全國科學大會獎 專項獎 羰基鎳粗粉和鎳包鋁雙金屬粉末 19 1978 全國科學大會獎 ...
有機質譜儀基本工作原理:以電子轟擊或其他的方式使被測物質離子化,形成各種質荷...甚至液體分析;雷射探針質譜儀可進行表面和縱深分析;輝光放電質譜儀解析度高,可...
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教育部利用世界銀行第二批“大學發展項目”貸款,在高校中建立的大型精密儀器測試...分析透射電子顯微鏡(TEM)多功能電子能譜儀電子探針X射線顯微分析儀...