熱場掃描顯微鏡是一種用於冶金工程技術領域的分析儀器,於2013年9月4日啟用。
基本介紹
- 中文名:熱場掃描顯微鏡
- 產地:德國
- 學科領域:冶金工程技術
- 啟用日期:2013年9月4日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡
熱場掃描顯微鏡是一種用於冶金工程技術領域的分析儀器,於2013年9月4日啟用。
熱場掃描顯微鏡是一種用於冶金工程技術領域的分析儀器,於2013年9月4日啟用。技術指標放大倍數:12 - 900,000x 加速電壓:0.1 - 30 KV 低壓範圍:2-133Pa? 樣品台:5軸驅動,X = 130m...
超高分辨熱場發射掃描電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2007年07月21日啟用。技術指標 1. 解析度 高真空模式 1.0nm @ 15kv;1.8nm @ 1kv;0.8nm @ 30kv(stem探測器);低真空模式 1.5nm @ 10kv(helix探測...
熱場發射掃描電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年12月20日啟用。技術指標 1.具有高分辨能力的半浸沒式物鏡(Semi-in-lens) 半浸沒式物鏡能將電子束收縮的很細,即使在低加速電壓下也能實現高分辨。 2.採用GENTLE...
熱場發射掃面電子顯微鏡是一種用於土木建築工程、機械工程、物理學領域的分析儀器,於2013年06月01日啟用。技術指標 二次電子圖象解析度:1.0nm(15KV.WD=4.0mm)1.6nm(1KV.WD=1.5mm,減模.5nm1KV.WD=1.5mm)放大倍數:低放大倍數...
高分辨熱場發射掃描電子顯微鏡 高分辨熱場發射掃描電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年9月11日啟用。技術指標 15kV解析度0.6nm,1kV解析度1.6nm。主要功能 測試樣品表面形貌及微區成分。
掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介於透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品,通過光束與物質間的相互作用,來激發各種物理信息,對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表征的目的。
場發射掃描電子顯微鏡(FESEM)是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高解析度,能做各種固態樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理,在鍍膜或不鍍膜的基礎上,低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品...
熱發射顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2014年7月26日啟用。技術指標 InSb相機在3 µm到5 µm波段內具有高靈敏度專為3 µm 到 5 µm波段最佳化的鏡頭設計使用lock-in功能(選配)實現低噪聲使用斯特林循環冷卻器實現...
高解析度顯微鏡 高解析度顯微鏡是一種用於基礎醫學、化學、生物學領域的分析儀器,於2015年12月11日啟用。技術指標 可用於活細胞實驗,含螢光、透射光路,60x物鏡。主要功能 高分辨態分析。
掃描電鏡研究方法是隨著科學技術的發展,掃描電鏡已成為檢測固體物質的重要手段。利用電子顯微術力求觀察到更微小的物體結構,甚至單個原子;力求從試樣上得到更多的信息,以便對其進行各種研究。由於掃描電鏡具有分辨能力高,景深長,視野大,...
掃描電鏡主要是利用二次電子、in-lens、ABS探頭對材料微區進行觀察與分析(幾何形貌、分布及尺寸)。能譜儀主要是配合電鏡在材料微區表面做點、線和面的元素分布分析。電子背散射衍射儀可以用來表征材料的取向分布度(OIM)、取向襯度圖...
冷凍場發射掃描電子顯微鏡技術指標 編輯 播報 1.解析度: ≤0.6 nm@15 keV (二次電子),≤1.1 nm@1 keV,≤1.2 nm@500 eV(二次電子,無需減速模式); 2.放大倍率:20-2,000,000倍, 根據加速電壓和工作距離的改變,放大倍數自動...
熱場發射掃描式電子顯微鏡是一種用於電子與通信技術領域的工藝試驗儀器,於2012年12月3日啟用。技術指標 電壓1KV-30KV,樣品高度不能超過3.5cm,長寬不超過5cm.。主要功能 由於掃描電子顯微鏡可用多種物理信號對樣品進行綜合分析,並具有可以...
FEI場發射掃描電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2014年4月24日啟用。技術指標 二次電子解析度 15KV時優於0.8nm,1KV時優於0.9nm;STEM模式,BF像 30KV時優於0.6nm。主要功能 帶能量單色過濾器,超高解析度熱場發射...
實驗室擁有高分辨透射電子顯微鏡、熱場掃描電子顯微鏡、X射線衍射儀、示差掃描量熱儀等先進的進口高級材料分析儀器和大量常規實驗儀器,完全可滿足學生專業學習和科研之用。該專業建設歷史悠久、師資力量雄厚、專業特色明顯、在行業內影響較大...
6.5.4 高解析度的熱場發射掃描電子顯微鏡 201 思考題 202 參考文獻 202 第7章 透射電子顯微鏡 203 7.1 TEM基本原理與構造 203 7.1.1 顯微鏡的解析度 203 7.1.2 電磁透鏡 204 7.1.3 TEM的構造和工作原理 206 7.2 選區...
掃描電子顯微鏡方面主要有:分析掃描電鏡和X射線能譜儀、X射線波譜儀和電子探針儀、場發射槍掃描電鏡和低壓掃描電鏡、超大試樣室掃描電鏡、環境掃描電鏡、掃描電聲顯微鏡、測長/缺陷檢測掃描電鏡、晶體學取向成像掃描電子顯微術和計算機控制...
如日本的多功能燒結爐、美國的化學氣相滲透爐、熱場發射掃描電子顯微鏡等,為本研究方向的研究生培養、科學研究和本科生實驗教學奠定了良好的基礎。本實驗有兩個本科專業(材料科學與工程,材料化學),三個碩士學位授權點(材料學,材料加工...
超景深三維顯微鏡、雷射共聚焦顯微鏡、螢光倒置顯微鏡+高功率雷射光源組合設備、傅立葉變換紅外光譜儀、可控氣氛傅立葉變換紅外光譜儀、原子力顯微鏡、拉曼光譜和原子力顯微鏡聯用儀、超聲原子力模量成像分析儀、高斯計、超聲掃描顯微鏡、材料...