基本介紹
- 中文名:對準精度
- 外文名:Alignment Precision
- 定義:掩模上與晶圓上圖形對準時套刻的精度
光刻機的對準系統(alignment)負責把掩模上存在的圖形與晶圓上已有的圖形進行對準,對準精度(Alignment Precision,AP)則為掩模上與晶圓上圖形對準時套刻的精度。圖1是主流光刻機ASML中對準系統示...
●全自動絲網印刷機印刷時網板與基板首先要對準,對準精度達到幾十微米級。●貼片時貼裝元件引腳必須與PCB基板上的焊盤對準,對準精度達幾到幾十微米。因為工作頭不能接觸工件,並且需要快速對準,所以上述對準操作都採用非接觸的視覺識別...
場像對準技術是一種對準精度高、結構簡單、可操作性強的對準方法。又稱視頻圖像處理對準技術(field image alignment,FIA),該方法指在光刻套刻的過程中,掩模圖樣與矽片基板之間基本上只存在相對旋轉和平移,充分利用這一有利條件,結合...
干涉光強度對準是一種對準精度高、穿透性強的對準方法。D.C. Flanders等人將衍射光干涉強度信息用於X射線光刻的對準,從而誕生了基於干涉光強度的對準方法。該類方法原理可以描述為,當光束透過掩模標記,通過矽片標記上的反射光柵衍射後,...
對準式納米熱壓印及紫外納米壓印設備是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的工藝試驗儀器,於2014年12月10日啟用。技術指標 1、可實現最大6英寸全面積熱壓印; 2、壓印精度:20nm; 3、設備真空度:0.01kpa; 4、對準精度:...
曝光光源:UV300;光源波長:365nm;光源均勻性:3.1%;晶片尺寸:2-6英寸;接觸方式:真空,低真空接觸, 硬接觸,軟接觸和接近式接觸;對準模式:正和背面兩種對準方式;最小線寬:0.5 μm;對準精度: ±0.5 μm。主要功能 採用...
光刻機的對準系統還可以接受外部輸入的參數,對曝光位置做進一步的校正。先進光刻機要求有極高的對準精度,而對準精度(alignment precision, AP)與所需要測量的對準標記數目(N)成反比,即測量的標識越多,所能達到的對準精度越高。圖1...
傳統的自對準方法是將船體的偏盪運動視為高頻干擾,通過濾波的方法從中提取出地球自轉角速率等信息進行自對準,這種方法得到的基準信息不夠準確。慣性系下傳統的解析法粗對準能夠達到水平精度10’,航向精度30’的精度,可以滿足精對準的...
1、365nm光強密度:18-20mW/cm2;400nm光強密度:30-35mW/cm2;2、均勻性:50mm口徑<±1%;100mm口徑<±2%;150mm口徑<±3%;3、解析度:0.6um(接觸式);1um(接近式);4、正面對準精度:±0.5um5、背面對準精度。
慣導系統初始對準精度對導航精度影響非常大,捷聯慣導系統初始對準過程實際上是對慣導解算進行初始化。慣性所用的航位推算的算法實質是一種積分運算,需要確定積分的初值,包括位置速度和姿態的初值。慣導系統初始化的關鍵是確定初始姿態。初始...
提出了一種利用重力矢量的特徵、藉助FIR濾波器抑制高頻噪聲的慣性系對準新方法。根據空間矢量的相互關係,推導了慣性系對準精度與慣性器件誤差之間的關係式。設計了兩級抽取、分段濾波的FIR低通數字濾波器組,為抑制基座擾動提供了有效手段。...
國內學者針對羅經對準提出爭議的根源在於不同的參數設計會導致對準性能大相逕庭。在上述兩條設計原則中,提高開環增益的目的明確,也容易理解,但試驗表明,極點配置情況決定著羅經對準最終穩定時間,決定了羅經對準在晃動基座的對準精度。發展...
第6章 火箭彈傳遞對準精度與彈道修正理論 6.1 傳遞對準精度分析 6.1.1 傳遞對準誤差模型 6.1.2 快速動態傳遞對準匹配方法 6.1.3 快速動態傳遞對準濾波算法 6.1.4 快速動態傳遞對準誤差補償算法 6.2 捷聯慣導系統傳遞對準...
《複雜桿臂效應下分散式SINS/DGPS系統動基座對準方法研究》是依託北京航空航天大學,由劉百奇擔任項目負責人的青年科學基金項目。項目摘要 桿臂效應誤差是影響SINS/GPS動基座對準精度的關鍵因素之一。尤其對於機載分散式SINS/GPS組合系統,主...
紅外後對準雙面光刻機是一種用於物理學領域的儀器,於2006年08月01日啟用。技術指標 主要用於功率電子器件、感測器、微波器件及MEMS(微電子機械系統)等新型電子元器件的單雙面對準及曝光工藝。 最小光刻線條:0.6μm或更好 對準精度...
該裝置中矽片背面標記照明裝置安裝於矽片承片台內,因此工件台結構設計和裝配比較複雜,且加工成本高,且受到矽片全場對準精度及矽片承片台空間尺寸的制約;需要在矽片背面標記照明裝置指定位置處製作相應的矽片背面對準標記,因此增加了工藝...
成像誤差對對準精度的影響分析與實驗結果表明,基於雷射共聚焦的對位測量解析度能達到0.5微米。 (3)基於UMAC卡的多軸綜合集成控制系統:針對本儀器組成部件眾多,所需控制軸數多、自由度數多(28個),且控制功能要求各異,反饋信息...
初始對準中卡爾曼濾波器的穩定性和可觀性是影響對準精度和快速性的主要因素,建立多步高精度卡爾曼濾波技術,對慣性組合測量值進行組合濾波,提高慣性組合的測量精度和飛彈精度。3 改進制導方法 二階攝動制導、自適應制導、耗盡關機制導或疊代...
初始對準技術一直是慣性導航的核心和關鍵技術之一,對準精度、對準速度以及方法的穩定性在很大程度上決定了導航系統性能。本書系統地闡述了捷聯式慣性導航初始對準的原理和方法,共分為10章,主要內容包括緒論、SINS導航解算與誤差傳播規律、...
高精度掩膜對準光刻機是一種用於農學、生物學、化學、物理學領域的分析儀器,於2017年11月7日啟用。技術指標 支持4英寸晶圓;曝光波長:350-450nm;曝光燈功率:350W;解析度:優於0.8mm(光刻膠厚度1微米時);套刻精度:0.5mm;...
光刻要求矽片表面上存在的圖案與掩模版上的圖形準確對準,這種特性指標就是套準精度。對準十分關鍵,因為掩模版上的圖形要層對層準確地轉移到矽片上。當圖形形成要多次用到掩模版時,套準精度過差都會影響矽片表面上不同圖案間總的布局...
此偏差為動態跟蹤的誤差源之一,所以需要跟苛刻的對準精度。所以,典型的空間雷射通信系統的詳細工作流程應為初始視軸指向、捕獲、粗跟蹤、精跟蹤、精密瞄準,簡稱捕獲、跟蹤、對準(ATP)。
連續工作時間大於10000小時;直寫解析度1μm;直寫速度20mm2/min @ 1μm;集成高倍光學顯微鏡系統2套,放大倍數分別為:X5,X40;對準精度:2um;可視化對準精度優於500nm;灰度直寫等級:256級;多層套刻精度±1μm;最小柵格精度...
精密對位曝光系統是一種用於數學領域的物理性能測試儀器,於2004年03月01日啟用。技術指標 EVG620掩模對準曝光機襯底尺寸:2 - 6襯底、碎片(單片)掩模版尺寸:最大7對準精度:光刻對準:頂部對準0.5um 底部對準1um鍵合對準:玻璃/矽...
動基座對準研究 慣導系統一個十分重要的問題是其初始對準問題,對準精度和對準的時間是慣導系統進行初始對準時的兩項重要技術指標。初始對準精度影響慣導系統的性能,初始對準時間標誌著快速反應能力,因此要求初始對準精度高、對準時間短,即...
雙面曝光機是一種用於物理學領域的儀器,於2005年6月1日啟用。技術指標 上下掩膜對準行程範圍:X向 ±4mm,Y向 ±4mm,θ向 ±7.5°;掩膜對基片對準行程範圍:X向 ±4mm,Y向 ±4mm,θ向 ±5°; 掩膜對基片對準精度 ±...
高精度“精微”成像系統:成像精度為亞微米量級;高精度數字CCD相機成像;具備光纖側面成像和端面成像能力;全自動四軸光纖定位系統,X-Y方向<0.1μm的對準精度。主要功能 FFS-2000是一款多功能的光纖熔接加工處理的綜合平台,能夠持續...
使用四象限探測器來完成掩模的預對準是一種行之有效並且經濟適用的方法,對於實現掩模版的預對準完全可行,通過初步的實驗發現,該系統可以完成在10mm的對準精度,在改變環境為淨化間環境以及提高安裝精度後,該值可以滿足最終的要求。預對準...
截至2012年5月,印刷電路板PCB曝光行業主要使用膠片掩膜技術,但這種技術具有明顯的缺點,例如膠片易變形、對準精度低,只能達到4密耳左右的線寬,並且膠片存儲和管理困難等。隨著PCB朝向高密度互連HDI和多層化等趨勢發展,PCB電路板需要更小...