亞微米紫外掩膜對準系統

亞微米紫外掩膜對準系統

亞微米紫外掩膜對準系統是一種用於物理學、材料科學領域的工藝試驗儀器,於2002年11月7日啟用。

基本介紹

  • 中文名:亞微米紫外掩膜對準系統
  • 產地:德國
  • 學科領域:物理學、材料科學
  • 啟用日期:2002年11月7日
  • 所屬類別:工藝試驗儀器 > 電子工藝實驗設備 > 電真空器件工藝實驗設備
技術指標,主要功能,

技術指標

曝光光源:UV300;光源波長:365nm;光源均勻性:3.1%;晶片尺寸:2-6英寸;接觸方式:真空,低真空接觸, 硬接觸,軟接觸和接近式接觸;對準模式:正和背面兩種對準方式;最小線寬:0.5 μm;對準精度: ±0.5 μm。

主要功能

採用紫外光源,製作亞微米(最小線寬0.5 μm)的圖形。可用於各種微器件的製作和低維人工結構的形成,如製作下列器件結構:微電子器件,光電子器件,生物感測器,微機電系統,超導電子學器件,磁電子學器件等,也是研究材料在低維度、小尺寸下量子行為的重要輔助工具。

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