光學測量系統是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2019年6月20日啟用。
基本介紹
- 中文名:光學測量系統
- 產地:中國
- 學科領域:機械工程
- 啟用日期:2019年6月20日
- 所屬類別:計量儀器 > 長度計量儀器 > 雷射小角度測量儀基準裝置
光學測量系統是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2019年6月20日啟用。
光學測量系統是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2019年6月20日啟用。技術指標2000*1800*1200。1主要功能教學。1...
光學測試系統 光學測試系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2017年09月12日啟用。技術指標 測量範圍 760精確度 0.01(mm) 工作電壓 220(V)。主要功能 光學測試。
測距光學系統是通過測量光束在待測距離上往返傳播的時間來換算出距離的光學系統,其距離換算公式為:d=ct/2。由於雷射與其它光源相比,具備如下特點:探測距離遠測距精度高,抗干擾性強,保密性好,體積小,重量輕,故光學系統測距經常...
光學特性測量系統是一種用於信息科學與系統科學領域的電子測量儀器,於2011年6月7日啟用。技術指標 亮度範圍:0.01cd/m2-2000cd/m2 亮度精度:≤3% 反應時間解析度:≤0.1ms 光譜測量範圍:380-780nm 光譜精度:≤0.5nm 光譜解析度...
IOM三維光學密集點雲測量系統是智泰生產的一款產品,它與傳統的三坐標測量儀和雷射三維掃瞄器相比,是一種高速高精度的三維掃描測量設 系統介紹 產系統具有速度快、精度高、易操作、可移動等特點,系統的軟體和硬體可以根據需要專門進行開發...
光測量系統是一種用於物理學領域的計量儀器,於2011年12月20日啟用。技術指標 測量範圍:(13~-80)dBm。主要功能 該裝置由光功率計、光衰減儀、DFB光源三台儀器合併而成,主要用來測量光發射端機的輸出功率和調節光通信的光路中光...
XJTUDP 三維光學攝影測量系統,採用數字近景工業攝影測量技術(digital close-range industrialPhotogrammetry ),是攜帶型光學三坐標系統,用於測量物體表面的標誌點和特徵的精確三維坐標。用於對大型或超大型(幾米到幾十米)物體的關鍵點進行...
光學三維應測量系統是一種用於材料科學領域的物理性能測試儀器,於2013年07月07日啟用。技術指標 自由調節應變測量範圍,高精度(最高可達0.01%)大位移大應變測量(>>100%)。主要功能 對材料的力學性能進行測試,可進行三維實時測試...
光學面形測量系統是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的物理性能測試儀器,於2016年9月3日啟用。技術指標 光學元件輪廓測量,面形測量精度優於1/10波長 軸向分辨力:1/10波長。主要功能 光學面形測量系統是非接觸式3D表面輪廓形貌測量...
攜帶型光學坐標測量系統是一種用於材料科學、機械工程領域的計量儀器,於2016年11月16日啟用。技術指標 1.測量體積35m3(測量距離1.5m~7.5m,近端測量高度0.5m,遠端測量高度2.7m,測量寬度3.7m);2.可追蹤標識點512個;3.雷射...
使用81600B、81940A 或 81980A TLS,以及功率計 (例如 816x 系列模組或多連線埠 N7744A 和 N7745A) 和免費的 N7700A IL 軟體,可以組成一個測量系統。這些“波長掃描”例程的編程過程非常簡單,可以使用免費的 816x 即插即用驅動...
手持式光學測量系統是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2018年7月6日啟用。技術指標 1.測量範圍:≥9m3 2.單點精度:0.025mm; 3.單點重複性:≤0.088mm; 4.測針重量:≤0.5kg。主要功能 此手持式光學測量系統採用紅外雷射...
光學三維測量系統 光學三維測量系統是一種用於測繪科學技術領域的計量儀器,於2009年3月10日啟用。技術指標 Oqus鏡頭3隻,IP67防水指標。主要功能 各種系泊試驗、耐波性試驗、性能試驗、操縱性試驗及其他水池模型試驗。
光學動態三維測量系統 光學動態三維測量系統是一種用於信息科學與系統科學領域的物理性能測試儀器,於2014年4月4日啟用。技術指標 C-track380。主要功能 1.教學。
光學三維掃描測量系統 光學三維掃描測量系統是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2012年10月26日啟用。技術指標 單幅測量範圍500mm*400mm,相機解析度400萬像素。主要功能 自由曲面的三維形貌測量。
(2)單脈衝雷射器 (3)片光源器,用於光學發動機的光學系統標定。 2、16通道燃燒參量測量分析系統 氣缸壓力、近排氣管壓力和溫度、高壓油管壓力溫度、針閥升程、氣門升程。角標儀、上止點感測器 3、光學平台 氣懸浮,國產 4、火花塞光...
光學流動式三維測量系統 光學流動式三維測量系統是一種用於機械工程領域的科學儀器,於2005年3月23日啟用。技術指標 單幅測量精度為正負0.03mm,被測物大小不限,可隨意移動與翻轉,能實現自動拼合。主要功能 光學三維測量與質量檢測。
手持式光學光筆測量系統是一種用於生物學領域的計量儀器,於2014年12月23日啟用。技術指標 測量範圍7.8m3,測量速度30點/秒,單點精度25μm。主要功能 精確地探針接觸是測量,完成三維特徵的測量套用,動態手持的測量方式。
三維光學掃描測量系統是一種用於機械工程、交通運輸工程領域的分析儀器,於2015年01月05日啟用。技術指標 測量速率205,000次測量/秒、掃描區域225毫米*250毫米、尺寸122*77*294毫米、光源3束交叉雷射線、部件尺寸範圍(建議)0.1–4米...
高速光學測試系統是一種用於生物學、材料科學領域的計量儀器,於2018年3月5日啟用。技術指標 最大幀頻(Hz):25(全螢幕模式)44(分級模式);相機解析度(像素):2752×2200。主要功能 ARAMIS是一款非接觸式光學三維測量系統,這一系統...
光學顯微鏡測量系統 光學顯微鏡測量系統是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器,於2016年12月21日啟用。技術指標 50-1000倍放大顯微放大觀測。主要功能 50-1000倍放大顯微放大觀測。
三維光學應變測量系統是一種用於材料科學領域的計量儀器,於2019年9月29日啟用。技術指標 應變測量精度:0.005%; 位移測量精度:20+L/25μm(L:mm); 中低速測量系統測量頭解析度:600萬像素(2750 x 2200 pixels); 中低速測量...
光學測量系統高精度三維雷射掃瞄器是一種用於機械工程領域的分析儀器,於2018年6月15日啟用。技術指標 單點重複精度:0.055mm;體積精度:0.058--0.085mm;x、y、z 軸的解析度: 0.1 mm;測量模式:靜態和動態;點雲無分層,掃描...
非接觸式光學測量系統 非接觸式光學測量系統是一種用於能源科學技術領域的物理性能測試儀器,於2018年12月18日啟用。技術指標 5μm-5cm/0-15m/s。主要功能 顆粒大小、分布、速度。
多尺度綜合光學測量系統是一種用於測繪科學技術領域的物理性能測試儀器,於2015年3月12日啟用。技術指標 測量精度高,達到12ppm;非接觸式測量;測量效率高;可以在不穩定的環境中測量;特別適合狹小空間的此類那個;數據率高,方便獲取大量...
三維應變光學測量系統是一種用於力學、土木建築工程學科領域的長度計量儀器,於2017年7月3日啟用。技術指標 解析度1600*1200像素,最高幀頻59fps,視場範圍覆蓋顯微到大視場。主要功能 非接觸式二維和三維測量多種材料的應變。
光電測量系統調製方式 利用光纖傳輸技術和光學感測器測量高電壓,特別是測量衝擊高電壓,具有許多優點:高壓和低壓測量儀器通過光纖隔離,後者具有很高的絕緣水平而且具有高抗電磁干擾的能力。在衝擊電壓的測量中,用光纖取代了同軸電纜傳遞信號...