光學三維測量系統是一種用於測繪科學技術領域的計量儀器,於2009年3月10日啟用。
基本介紹
- 中文名:光學三維測量系統
- 產地:瑞典
- 學科領域:測繪科學技術
- 啟用日期:2009年3月10日
- 所屬類別:計量儀器 > 長度計量儀器
光學三維測量系統是一種用於測繪科學技術領域的計量儀器,於2009年3月10日啟用。
光學三維測量系統 光學三維測量系統是一種用於測繪科學技術領域的計量儀器,於2009年3月10日啟用。技術指標 Oqus鏡頭3隻,IP67防水指標。主要功能 各種系泊試驗、耐波性試驗、性能試驗、操縱性試驗及其他水池模型試驗。
光學三維應測量系統是一種用於材料科學領域的物理性能測試儀器,於2013年07月07日啟用。技術指標 自由調節應變測量範圍,高精度(最高可達0.01%)大位移大應變測量(>>100%)。主要功能 對材料的力學性能進行測試,可進行三維實時測試...
三維光學攝影測量系統,是國內唯一自主智慧財產權的的近景工業攝影測量系統(Digital Close Range Industry Photogrammetry),是一個攜帶型三坐標 IDP 三維工業攝影測量系統。IDP 三維系統 三維光學攝影測量系統 基本介紹 工業測量系統(Portable ...
光學三維掃描測量系統 光學三維掃描測量系統是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2012年10月26日啟用。技術指標 單幅測量範圍500mm*400mm,相機解析度400萬像素。主要功能 自由曲面的三維形貌測量。
PMLAB DIC-3D是中國科學技術大學與東南大學共同開發的非接觸式三維應變光學測量系統。系統採用非接觸式光學測量方法,可準確測量物體的空間三維坐標,以及在和作用下的位移及應變等數據。系統介紹 DIC-3D系統是非接觸式的光學三維應變測量...
IOM三維光學密集點雲測量系統是智泰生產的一款產品,它與傳統的三坐標測量儀和雷射三維掃瞄器相比,是一種高速高精度的三維掃描測量設 系統介紹 產系統具有速度快、精度高、易操作、可移動等特點,系統的軟體和硬體可以根據需要專門進行開發...
三維光學應變測量系統是一種用於材料科學領域的計量儀器,於2019年9月29日啟用。技術指標 應變測量精度:0.005%; 位移測量精度:20+L/25μm(L:mm); 中低速測量系統測量頭解析度:600萬像素(2750 x 2200 pixels); 中低速測量...
光學動態三維測量系統 光學動態三維測量系統是一種用於信息科學與系統科學領域的物理性能測試儀器,於2014年4月4日啟用。技術指標 C-track380。主要功能 1.教學。
在三維光學測量技術上,主要研究領域如下:光學三維密集點雲測量系統 XJTUOM三維光學面掃描系統已更名為XTOM-MATRIX三維掃瞄器。XJTUOM型光學三維密集點雲測量系統與傳統的三坐標測量儀和雷射三維掃瞄器相比,是一種高速高精度的三維掃描測量...
三維應變光學測量系統是一種用於力學、土木建築工程學科領域的長度計量儀器,於2017年7月3日啟用。技術指標 解析度1600*1200像素,最高幀頻59fps,視場範圍覆蓋顯微到大視場。主要功能 非接觸式二維和三維測量多種材料的應變。
高精度局域光學三維測量系統是一種用於材料科學領域的科學儀器,於2011年10月26日啟用。技術指標 測量空間:大於20m×20m×20m;測量精度:小於±0.3mm。主要功能 使用基於數字光學投影的近距離結構光測量系統作為測量終端,精確測量工件局部...
(模具,螺絲,金屬,配件,橡膠,PCB板,彈簧,五金,電子,塑膠、航空、航天等)它克服了傳統投影儀和二維影像測量的不足,是集光學、機械、電子、計算機圖像處理技術於一體的高精度、高效率、高可靠性的測量儀器。由光學放大系統對被測...
三維光學掃描系統是一種用於機械工程領域的電子測量儀器,於2016年01月20日啟用。技術指標 (1)原理:LED藍光拍照技術 (2)精度:在Frame300模式下,300x230x230mm,形狀誤差不大於0.007mm,球徑誤差不大於0.018mm,球距誤差不大於...
因其在微型精密測量領域的強大用途,已為越來越多的主流套用領域接受的快速尺寸測量方式。它克服了傳統投影儀和二維影像測量的不足,是集光學、機械、電子、計算機圖像處理技術於一體的高精度、高效率、高可靠性的測量儀器。由光學放大系統...
該系統由西安交通大學模具與先進成形技術研究所研究開發。西安交通大學模具與先進成形技術研究所主要從事三維實體數位化的科學研究,研製了系列光學三維測量系統,並在逆向工程設計、三維數位化檢測技術方面進行了大量研究,在三維數位化技術的...
測量範圍:(400×200×200)mm 測量不確定度: E1=(1.4+L/300)μm E2=(1.8+L/200)μm E1=(2.2+L/150)μm。主要功能 以光學探頭、機械探針、雷射測頭、光纖探頭多種測頭集成一體的小型多功能坐標測量儀器,實現精密標準...
三維光學密集點雲掃描系統與傳統的三坐標測量儀和雷射三維掃瞄器相比,是一種高速高精度的三維掃描測量設備,系統具有速度快、精度高、易操作、可移動等特點,系統的軟體和硬體可以根據需要專門進行開發和設計,技術實用性強,廣泛適用於各種...
該系統是基於數字攝影的大尺寸三坐標測量系統,也稱為工業攝影測量系統、數字近景攝影測量系統、數字近景攝影視覺測量系統、數字攝影三維測量系統、三維光學圖像測量系統,攝影測量系統是通過同一相機拍攝的多張像片,計算出物面上多個特徵點的...
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三維雷射跟蹤測量系統 三維雷射跟蹤測量系統是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的計量儀器,於2007年12月27日啟用。技術指標 測量範圍35m,精度5微米+8/ppm。主要功能 大尺寸幾何量測量,點、線、面、圓。
測量原理 結構光掃瞄器原理 光學三維掃描系統是將光柵連續投射到物體表面,攝像頭同步採集圖像,然後對圖像進行計算,並利用相位穩步極線實現兩幅圖像上的三維空間坐標(X、Y、Z),從而實現對物體表面三維輪廓的測量。雷射掃瞄器原理 由於...
由於對信號和時間的精確測量比較困難,因此難以對小尺寸的物體測量。(2)光學測量是目前三維數據測量研究的主要方向之一,其分類情況如圖2所示。光學測量分為主動式和被動式兩種。被動三維測量採用非結構照明方式,從一個或多個攝像系統獲取...
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光學3D實時採集系統是一種用於計算機科學技術領域的電子測量儀器,於2018年6月12日啟用。技術指標 原始解析度: 1200 萬像素, 4096 x 3068 有效解析度: 3 百萬像素 像素尺寸: 5.5μm×5.5μm 感測器類型:CMOS,...