基本介紹
- 中文名:三維光學密集點雲掃描系統
- 專業特點:速度快、精度高、易操作、可移動等特點
- 品牌:3DFAMILY
- 型號:0M15000M400
- 操作方式:自動
- 功能:三維測量
三維光學密集點雲掃描系統與傳統的三坐標測量儀和雷射三維掃瞄器相比,是一種高速高精度的三維掃描測量設備,系統具有速度快、精度高、易操作、可移動等特點,系統的軟體和硬體可以根據需要專門進行開發和設計,技術實用性強,廣泛適用於...
三維光學掃描系統是一種用於機械工程領域的電子測量儀器,於2016年01月20日啟用。技術指標 (1)原理:LED藍光拍照技術 (2)精度:在Frame300模式下,300x230x230mm,形狀誤差不大於0.007mm,球徑誤差不大於0.018mm,球距誤差不大於...
在三維光學測量技術上,主要研究領域如下:光學三維密集點雲測量系統 XJTUOM三維光學面掃描系統已更名為XTOM-MATRIX三維掃瞄器。XJTUOM型光學三維密集點雲測量系統與傳統的三坐標測量儀和雷射三維掃瞄器相比,是一種高速高精度的三維掃描測量...
三維光學測量系統是採用光束進行測量的系統,具有非接觸式的優點。這種系統也稱三維藍光掃瞄器,根據感測方法不同,分三維藍光掃瞄器,雷射三維掃描儀,和CT斷層掃瞄器等。產品簡介 測量費用適中;探頭不易磨損。測量速度快;適用於待測物體...
三維掃描儀的用途是創建物體幾何表面的點雲(point cloud),這些點可用來插補成物體的表面形狀,越密集的點雲可以創建更精確的模型(這個過程稱做三維重建)。若掃瞄器能夠獲取表面顏色,則可進一步在重建的表面上貼上材質貼圖,亦即所謂的...
高精度局域光學三維測量系統是一種用於材料科學領域的科學儀器,於2011年10月26日啟用。技術指標 測量空間:大於20m×20m×20m;測量精度:小於±0.3mm。主要功能 使用基於數字光學投影的近距離結構光測量系統作為測量終端,精確測量工件局部...
它是利用雷射測距的原理,通過記錄被測物體表面大量的密集的點的三維坐標、反射率和紋理等信息,可快速復建出被測目標的三維模型及線、面、體等各種圖件數據。由於三維雷射掃描系統可以密集地大量獲取目標對象的數據點,因此相對於傳統的單...
光學測量系統高精度三維雷射掃描儀是一種用於機械工程領域的分析儀器,於2018年6月15日啟用。技術指標 單點重複精度:0.055mm;體積精度:0.058--0.085mm;x、y、z 軸的解析度: 0.1 mm;測量模式:靜態和動態;點雲無分層,掃描...
該系統既可以單獨使用,也可以與三維光學面掃描系統配合使用,能夠有效地保證大型物體整體點雲的拼接精度。基本特點 ⒈相機自標定技術,採用普通數位相機,套用更廣泛。⒉自主智慧財產權的核心算法---捆綁調整算法。⒊可以測量出大型物體(幾米...
與傳統三座標測量儀相比,沒有機械行程限制,不受被測物體的大小、體積、外形的限制,能夠有效減少累積誤差,提高整體三維數據的測量精度。該系統既可以單獨使用,也可以與三維光學面掃描系統配合使用,能夠有效地保證大型物體整體點雲的拼接...