三維光學掃描系統

三維光學掃描系統是一種用於機械工程領域的電子測量儀器，於2016年01月20日啟用。

基本介紹

• 中文名：三維光學掃描系統
• 產地：德國
• 學科領域：機械工程
• 啟用日期：2016年01月20日
• 所屬類別：電子測量儀器

技術指標

（1）原理：LED藍光拍照技術 （2）精度：在Frame300模式下，300x230x230mm，形狀誤差不大於0.007mm，球徑誤差不大於0.018mm，球距誤差不大於0.031；150x110x110mm，形狀誤差不大於0.005mm，球徑誤差不大於0.016mm，球距誤差不大於0.028mm （3）測量點：2x2000000；掃描速度每筆為0.8秒; （4）測量面積：35平方毫米至1000平方毫米 （7）測量點距：0.021-0.615mm （5）工作距離：450-1200mm （6）工作範圍：35x30-1000x750mm。

主要功能

新一類緊緻型三維光學掃描檢測儀，ATOS Compact Scan 使三維光學測量技術的套用領域得到進一步擴展，用於三維測量、分析各式零件、模型等，能快速測量各式物體，真實清晰的再現細節。