光學掃描系統是一種用於機械工程領域的儀器,於1970年1月1日啟用。
基本介紹
- 中文名:光學掃描系統
- 產地:德國
- 學科領域:機械工程
- 啟用日期:1970年1月1日
光學掃描系統是一種用於機械工程領域的儀器,於1970年1月1日啟用。
光學掃描系統是一種用於機械工程領域的儀器,於1970年1月1日啟用。技術指標測 量 范 圍 為 400 mm × 400 mm 與 200 mm×200 mm。1主要功能根據實踐平台的功能, 面向研究生創新能力培養, 從...
ATOS光學掃描系統是一種用於機械工程、產品套用相關工程與技術領域的工藝試驗儀器,於2004年6月1日啟用。技術指標 藍光技術、與外界光線條件無關的掃描、快速掃描大型零部件、高質量的測量數據、測量體積可大可小、針對不同測量任務,能有...
XJTUOM是一個三維實體數位化系統(optical 3d range scanning system),用於不規則複雜曲面產品零件的移動攜帶型三維掃描和逆向設計。產品更名 XJTUOM三維光學面掃描系統已更名為XTOM-MATRIX三維掃瞄器。系統簡介 XJTUOM是一個三維實體數位化...
三維光學掃描系統是一種用於機械工程領域的電子測量儀器,於2016年01月20日啟用。技術指標 (1)原理:LED藍光拍照技術 (2)精度:在Frame300模式下,300x230x230mm,形狀誤差不大於0.007mm,球徑誤差不大於0.018mm,球距誤差不大於...
近場光學掃描系統是一種用於材料科學領域的儀器,於2015年09月04日啟用。技術指標 技術指標: 品牌/型號:德國Attocube System AG; 具體指標:Vibration isolation system for an attoCRYO SYSTEM,Helium level meter with probe,ARC casing...
多光譜光學斷層掃描系統是一種用於基礎醫學、藥學領域的醫學科研儀器,於2013年12月01日啟用。技術指標 該儀器結合了光學和超聲這兩種成像技術各自的優點,能實現對組織體較大深度的高解析度、高對比度的功能成像。可調式雷射680-980 nm,...
光學三維掃描測量系統 光學三維掃描測量系統是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2012年10月26日啟用。技術指標 單幅測量範圍500mm*400mm,相機解析度400萬像素。主要功能 自由曲面的三維形貌測量。
三維光學面掃描系統 三維光學面掃描系統是一種用於機械工程領域的物理性能測試儀器,於2015年12月8日啟用。技術指標 測量幅面300mm×400mm,測量精度0.05mm。主要功能 逆向設計。
ccd掃描儀是利用電荷耦合器件圖象感測器ccd(charge coupled device)掃描的一種儀器。ccd是利用微電子技術製成的一種半導體晶片,ccd晶片上有許多光敏單元,通過由一系列透鏡、反射鏡等組成的光學系統將圖象傳送到ccd晶片上,實現光電轉換...
在鉸接臂方面與其他 3D 掃瞄器相比較,光學 3D 掃描系統可以完全自由移動,顯著提高了工作效率和質量。套用領域 作為新的高科技產品,三維雷射掃瞄器已經成功的在文物保護、城市建築測量、地形測繪、採礦業、變形監測、工廠、大型結構、管道...
三維光學測量系統是採用光束進行測量的系統,具有非接觸式的優點。這種系統也稱三維藍光掃描儀,根據感測方法不同,分三維藍光掃瞄器,雷射三維掃瞄器,和CT斷層掃瞄器等。產品簡介 測量費用適中;探頭不易磨損。測量速度快;適用於待測物體...
光學掃描系統的瞬時視場角很小,掃描鏡只收集點的輻射能量,利用本身的旋轉或擺動形成一維線性掃描,加上平台移動,實現對地物平面掃描,達到收集區域地物電磁輻射的目的。常見的掃瞄器 紅外掃瞄器:接受地物的紅外輻射能量,並把它傳給探測...
光學掃描系統的瞬時視場角很小,掃描鏡只收集點的輻射能量,利用本身的旋轉或擺動形成一維線性掃描,加上平台移動,實現對地物平面掃描,達到收集區域地物電磁輻射的目的。(3)固體掃描成像 :通過遙感平台的運動對目標地物進行掃描的一種...
(3)掃描器電源電路故障 應該送修的故障:(1)指示燈異常,設備不能工作 (2)有異常聲音 (3)沒有雷射線 (4)掃描距離變得很近 突出特點 通用:機器,手臂防護裝置,腿腳檢測,危險區域監控和訪問保護,生產機器人,輸送系統,...
光譜掃描成像系統是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年12月22日啟用。技術指標 Leica TCS SP8雷射掃描共聚焦顯微鏡配有4個獨立固體雷射器:405nm、488nm、552nm、638nm;4個螢光掃描檢測器+1個透射光DIC(明場/微分干涉)掃描檢測器...
SYNOPSYS™可以分析最佳化各種各樣的複雜光學系統。支持多種特殊光學面如衍射光學元件、複雜非球面、自由曲面設計、各種變焦鏡頭,掃描系統。很容易實現元件的偏心和傾斜;主要功能 設計、最佳化和加工可靠的光學系統 始於1962年,曾套用於阿波羅...
三維雷射密集點雲掃描系統是一種高速高精度的三維掃描測量設備,系統具有速度快、精度高、易操作、可移動等特點。基本介紹 與傳統的三坐標測量儀和雷射三維掃瞄器相比,系統的軟體和硬體可以根據需要專門進行開發和設計,技術實用性強,廣泛...
光學掃描儀 光學掃瞄器是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2018年12月18日啟用。技術指標 可變焦式測量系統。主要功能 用於零件表面形貌的測量。
凝視成像光學系統 直接在光(電)接收器(如望遠鏡、顯微鏡、照相機、CCD攝像機等)上形成目標圖像。掃描成像光學系統採用單元或多元小陣列光電探測器,其掃描機制決定了其系統組成複雜,體積、質量較大.套用受到一定限制。但採用掃描技術,能使...
配置雙掃描系統,可以同時以相同或不同波長雷射對樣品做同步的光刺激與光成像配置光譜掃描系統,可做全光譜掃描,2nm光譜解析度,1nm步進,光譜掃描速度100nm/ms配置Z軸防漂移系統,Z軸精度+-0.1um高精度電動載物台xy精度0.01um,xy...
雷射共聚焦掃描系統是一種用於生物學領域的分析儀器,於2016年12月20日啟用。技術指標 1,顯微鏡:倒置顯微鏡Ti-E 擁有10X,20x,40X乾鏡以及60X,100X油鏡,電動載物台,2,雷射裝置:波長和電源:405LD:最大38mW;Multi-Ar(457/488/514...
光學相干斷層掃描儀簡稱OCT,是通過光學原理進行診斷成像的設備,可以提供視網膜橫斷面的圖像,用於在檢測青光眼和視網膜病時進行客觀定量測量和定性臨床分析。OCT成像使用了最新的高解析度掃描技術,三為一體的分析視網膜厚度、視網膜神經纖維層...
三維光學掃描儀是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2015年06月24日啟用。技術指標 鏡頭解析度:2448*2050 mm;測量空間:400mm3,480mm*400mm*250mm;3D點距:50μm / 100μm / 190μm;最大空間精度:±0.03mm;測量完成...
1884年,德國工程師尼普科夫(Paul Gottlieb Nipkow)利用硒光電池發明了一種機械掃描裝置,這種裝置在後來的早期電視系統中得到了套用,到1939年機械掃描系統被淘汰。雖然跟後來100多年後利用計算機來操作的掃瞄器沒有必然的聯繫,但從歷史的...
ATOS三維光學掃描儀是一種用於機械工程、動力與電氣工程領域的科學儀器,於2016年8月20日啟用。技術指標 每幅掃描大約5000000個點,千兆數據自動傳輸,投影光採用藍光,環境條件﹢5℃到﹢40℃,最大功率消耗300W。主要功能 質量控制,逆向...
光學機械掃描又稱物面掃描(across-track scanning),是掃描鏡沿著垂直於遙感平台飛行方向的逐點逐行的橫向掃描,獲取地面二維遙感圖像的一種方式。多光譜掃描成像是以逐點逐行的掃描方式,分波段獲取地表電磁輻射能量,形成二維地面圖像的一...
眼前節光學相干斷層掃描時根據眼組織結構的不同光學散射性,採用光干涉法進行二維顯像和定量分析的新技術。與臨床套用的其他眼前節檢測手段相比,OCT具有非接觸性、高解析度、可重複性高、獲取圖像快等優點。OSE-1200不僅安全、精確而且操作...