光學三維掃描測量系統是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2012年10月26日啟用。
基本介紹
- 中文名:光學三維掃描測量系統
- 產地:德國
- 學科領域:機械工程
- 啟用日期:2012年10月26日
- 所屬類別:計量儀器
光學三維掃描測量系統是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2012年10月26日啟用。
光學三維掃描測量系統是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2012年10月26日啟用。技術指標單幅測量範圍500mm*400mm,相機解析度400萬像素。1主要功能自由曲面的三維形貌測量。1...
三維光學測量系統是採用光束進行測量的系統,具有非接觸式的優點。這種系統也稱三維藍光掃瞄器,根據感測方法不同,分三維藍光掃瞄器,雷射三維掃描儀,和CT斷層掃瞄器等。產品簡介 測量費用適中;探頭不易磨損。測量速度快;適用於待測物體...
三維光學掃描系統是一種用於機械工程領域的電子測量儀器,於2016年01月20日啟用。技術指標 (1)原理:LED藍光拍照技術 (2)精度:在Frame300模式下,300x230x230mm,形狀誤差不大於0.007mm,球徑誤差不大於0.018mm,球距誤差不大於...
可以代替傳統的雷射跟蹤儀、關節臂、經緯儀等,而且沒有繁瑣的移站問題,可以全方位方便測量大型工件。 該系統既可以單獨使用,也可以與三維光學面掃描系統配合使用,能夠有效地保證大型物體整體點雲的拼接精度。基本特點 ⒈相機自標定技術...
三維光學面掃描系統 三維光學面掃描系統是一種用於機械工程領域的物理性能測試儀器,於2015年12月8日啟用。技術指標 測量幅面300mm×400mm,測量精度0.05mm。主要功能 逆向設計。
XJTUOM是一個三維實體數位化系統(optical 3d range scanning system),用於不規則複雜曲面產品零件的移動攜帶型三維掃描和逆向設計,可以與XJTUDP三維光學攝影測量系統(攜帶型大型物體的關鍵點三維攝影測量)配合使用。採用外差式多頻相移...
雷射測距儀每發一個雷射信號只能測量單一點到儀器的距離。因此,掃描儀若要掃描完整的視野(field of view),就必須使每個雷射信號以不同的角度發射。而此款雷射測距儀即可透過本身的水平旋轉或系統內部的旋轉鏡(rotating mirrors)達成...
光學三維掃描系統是將光柵連續投射到物體表面,攝像頭同步採集圖像,然後對圖像進行計算,並利用相位穩步極線實現兩幅圖像上的三維空間坐標(X、Y、Z),從而實現對物體表面三維輪廓的測量。雷射掃瞄器原理 由於掃描法系以時間為計算基準,...
光學三維測量系統 光學三維測量系統是一種用於測繪科學技術領域的計量儀器,於2009年3月10日啟用。技術指標 Oqus鏡頭3隻,IP67防水指標。主要功能 各種系泊試驗、耐波性試驗、性能試驗、操縱性試驗及其他水池模型試驗。
在三維光學測量技術上,主要研究領域如下:光學三維密集點雲測量系統 XJTUOM三維光學面掃描系統已更名為XTOM-MATRIX三維掃瞄器。XJTUOM型光學三維密集點雲測量系統與傳統的三坐標測量儀和雷射三維掃瞄器相比,是一種高速高精度的三維掃描測量...
這一完備且功能強大的檢測方案提高了測量過程的可靠性、速度和多功能性。 在鉸接臂方面與其他 3D 掃瞄器相比較,光學 3D 掃描系統可以完全自由移動,顯著提高了工作效率和質量。套用領域 作為新的高科技產品,三維雷射掃瞄器已經成功的在...
“照相式”掃描儀是針對工業產品涉及領域的新一代掃瞄器,與傳統的雷射掃瞄器和三座標測量系統比較,其測量速度提高了數十倍。由於有效的控制了整合誤差,整體測量精度也大大提高。其採用可見光將特定的光柵條紋投影到測量工作表面,藉助兩...
“照相式”掃描儀是針對工業產品涉及領域的新一代掃瞄器,與傳統的雷射掃瞄器和三座標測量系統比較,其測量速度提高了數十倍。由於有效的控制了整合誤差,整體測量精度也大大提高。其採用可見光將特定的光柵條紋投影到測量工作表面,藉助兩...
(模具,螺絲,金屬,配件,橡膠,PCB板,彈簧,五金,電子,塑膠、航空、航天等)它克服了傳統投影儀和二維影像測量的不足,是集光學、機械、電子、計算機圖像處理技術於一體的高精度、高效率、高可靠性的測量儀器。由光學放大系統對被測...
系統介紹 DIC-3D系統是非接觸式的光學三維應變測量系統,主要運用於分析、計算、儲存應變測量結果。本系統提供的測量結果包括數據、圖表以及雲圖,能夠直觀清晰地反應被測量物體的變形行為,為用戶提供便利。DIC-3D系統利用數字圖像處理基本...
三維掃描測量系統是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2016年04月28日啟用。技術指標 單點重複精度:0.024mm 空間精度:±0.034mm 掃描頭精準度:±0.025mm 掃描頭重複度:0.025mm。主要功能 數據處理:數據採集、數據分析、數據傳輸 ...
光學三維應測量系統是一種用於材料科學領域的物理性能測試儀器,於2013年07月07日啟用。技術指標 自由調節應變測量範圍,高精度(最高可達0.01%)大位移大應變測量(>>100%)。主要功能 對材料的力學性能進行測試,可進行三維實時測試...
高精度局域光學三維測量系統是一種用於材料科學領域的科學儀器,於2011年10月26日啟用。技術指標 測量空間:大於20m×20m×20m;測量精度:小於±0.3mm。主要功能 使用基於數字光學投影的近距離結構光測量系統作為測量終端,精確測量工件局部...
三維光學掃描儀是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2015年06月24日啟用。技術指標 鏡頭解析度:2448*2050 mm;測量空間:400mm3,480mm*400mm*250mm;3D點距:50μm / 100μm / 190μm;最大空間精度:±0.03mm;測量完成...
三維雷射密集點雲掃描系統是一種高速高精度的三維掃描測量設備,系統具有速度快、精度高、易操作、可移動等特點。基本介紹 與傳統的三坐標測量儀和雷射三維掃瞄器相比,系統的軟體和硬體可以根據需要專門進行開發和設計,技術實用性強,廣泛...
掃描精度0.1MM。主要功能 ATOS光學掃描測量系統具有高精度、不受物體表面反射率影響等特點,也容易實現計算機輔助自動測量。經計算機模擬和對實際物體三維面形的測量,測量精度高,,便於實現自動測量。GOM的光學計量與GOM的專業檢測軟體組合系...
CNC式三次元測量儀除提供尺寸測量( 點到點的測量) 外,也可作曲面的輪廓測量( 點到點的測量及掃描測量)。儀器指標 三維影像測量儀器的概念其基本內容包括精度、誤差、測量標準器材、長度測量、角度測量、形狀測量、在精密測量上的套用...
光學動態三維測量系統 光學動態三維測量系統是一種用於信息科學與系統科學領域的物理性能測試儀器,於2014年4月4日啟用。技術指標 C-track380。主要功能 1.教學。
操作簡單方便,同時設備一般比較小巧,容易便攜,是三維掃描和工業設計,工業檢測的好助手。性能優越 “照相式”掃瞄器是針對工業產品涉及領域的新一代掃瞄器,與傳統的雷射掃瞄器和三座標測量系統比較,其測量速度提高了數十倍。由於有效的...
光學掃描系統是一種用於機械工程領域的儀器,於1970年1月1日啟用。技術指標 測 量 范 圍 為 400 mm × 400 mm 與 200 mm×200 mm。主要功能 根據實踐平台的功能, 面向研究生創新能力培養, 從提高基礎實踐能力和綜合實踐能力兩...