光學三維掃描測量系統

光學三維掃描測量系統

光學三維掃描測量系統是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2012年10月26日啟用。

基本介紹

  • 中文名:光學三維掃描測量系統
  • 產地:德國
  • 學科領域:機械工程
  • 啟用日期:2012年10月26日
  • 所屬類別:計量儀器
技術指標,主要功能,

技術指標

單幅測量範圍500mm*400mm,相機解析度400萬像素。

主要功能

自由曲面的三維形貌測量。

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