三維掃描測量系統是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2016年04月28日啟用。
基本介紹
- 中文名:三維掃描測量系統
- 產地:美國
- 學科領域:機械工程
- 啟用日期:2016年04月28日
- 所屬類別:計量儀器 > 電磁學計量儀器 > 電容損耗因數基準
三維掃描測量系統是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2016年04月28日啟用。
三維掃描測量系統是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2016年04月28日啟用。技術指標 單點重複精度:0.024mm 空間精度:±0.034mm 掃描頭精準度:±0.025mm 掃描頭重複度:0.025mm。主要功能 數據處理:數據採集、數據分析、數據傳輸 ...
三維掃描系統是一種用於機械工程領域的儀器,於2010年12月31日啟用。技術指標 1掃描範圍:1.1X方向一次採集範圍:93mm到1495mm1.2Y方向一次採集範圍:69mm到1121mm1.3Z方向一次採集範圍:26mm到1750mm2測量精度:X,Y,Z三軸綜合精度...
人體三維掃描系統也稱三維人體測量系統,人體數位化系統,廣泛套用於服裝,動畫,人機工程以及醫學等領域。是發展人體(人臉)模式識別,特種服裝設計(如航空航天服,潛水服),人體特殊裝備(人體假肢,個性化武器裝備),以及開展人機工程研究...
三維雷射掃描測繪系統是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的計量儀器,於2010年08月05日啟用。技術指標 最短測距範圍:3m:最大測程:1500m:模型化精度3mm:定值精度8mm。主要功能 大長度、長距離以及三維位置的精密測量、測繪。
三維雷射密集點雲掃描系統是一種高速高精度的三維掃描測量設備,系統具有速度快、精度高、易操作、可移動等特點。基本介紹 與傳統的三坐標測量儀和雷射三維掃瞄器相比,系統的軟體和硬體可以根據需要專門進行開發和設計,技術實用性強,廣泛...
三維光學測量系統是採用光束進行測量的系統,具有非接觸式的優點。這種系統也稱三維藍光掃瞄器,根據感測方法不同,分三維藍光掃瞄器,雷射三維掃描儀,和CT斷層掃瞄器等。產品簡介 測量費用適中;探頭不易磨損。測量速度快;適用於待測物體...
機載三維雷射掃描系統集雷射 、全球定位系統(GPS)和慣性導航系統 (IMU)等多種尖端技術於一身,是一項先進的三維航空遙感技術。 該系統主要包括空中測量平台、雷射系統、全球定位系統(GPS)和慣導系統(INS)、小幅面數位相機(DSS)等其他...
院校專用三維掃描式振動測量系統是一種用於力學、機械工程領域的計量儀器,於2014年10月31日啟用。技術指標 振動頻寬100KHz,最小速度解析度0.02微米,精度1%,工作距離0.125-50m,掃描點數512*512點,攝像機20倍光學變焦,3D和1D兩種...
光學三維掃描測量系統 光學三維掃描測量系統是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2012年10月26日啟用。技術指標 單幅測量範圍500mm*400mm,相機解析度400萬像素。主要功能 自由曲面的三維形貌測量。
“照相式”掃描儀是針對工業產品涉及領域的新一代掃瞄器,與傳統的雷射掃瞄器和三座標測量系統比較,其測量速度提高了數十倍。由於有效的控制了整合誤差,整體測量精度也大大提高。其採用可見光將特定的光柵條紋投影到測量工作表面,藉助兩...
全自動三維數字測量系統 全自動三維數字測量系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2017年12月29日啟用。技術指標 CCD解析度:800萬像素,解析度3296x2472;掃描範圍5mm--1500mm。主要功能 對樣件進行高精度三維掃描。
幾何三維掃描系統是一種用於交通運輸工程領域的物理性能測試儀器,於2018年12月20日啟用。技術指標 掃描速度:97600個(點/秒);掃描範圍:148×105mm;像素:7000萬像素;光學解析度:400×400dpi;掃描介質:不限。主要功能 三維雷射...
三維多波束水下掃描系統 三維多波束水下掃描系統是一種用於數學領域的分析儀器,於2016年12月1日啟用。技術指標 接受聚焦0.45度。主要功能 地形地貌測量系統。
Riegl LPM-321是目前市場上射程最遠的高精度三維雷射掃描測量系統。及時在不設反射片的情況下,它也能對距離6000m的物體進行高精度三維雷射掃描。 Riegl LPM-321的雷射掃瞄器採用了Riegl自主研發的、最先進的全數位訊號處理和回波全波形...
光學三維密集點雲測量系統 XJTUOM三維光學面掃描系統已更名為XTOM-MATRIX三維掃瞄器。XJTUOM型光學三維密集點雲測量系統與傳統的三坐標測量儀和雷射三維掃瞄器相比,是一種高速高精度的三維掃描測量設備,系統具有速度快、精度高、易操作、...
“照相式”掃描儀是針對工業產品涉及領域的新一代掃瞄器,與傳統的雷射掃瞄器和三座標測量系統比較,其測量速度提高了數十倍。由於有效的控制了整合誤差,整體測量精度也大大提高。其採用可見光將特定的光柵條紋投影到測量工作表面,藉助兩...
高清晰三維雷射測量系統是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2011年12月1日啟用。技術指標 a、掃描視場角:水平360°;豎直270° 達到要求。b、最小採樣密度:1mm。 可以達到1mm精度。C、掃描距離:0.5米-300米。 最遠可以達到300m...
:JDSACN系統與同類產品相比的優勢:與傳統的格雷碼加相移方法相比,測量精度更高,單次測量幅面更大(從50mm到3米)、抗干擾能力強、受被測工件表面明暗影響小。國際少有同時自主研發出工業攝影測量系統和三維光學掃描系統兩套系統,都已...
光學測量系統高精度三維雷射掃描儀是一種用於機械工程領域的分析儀器,於2018年6月15日啟用。技術指標 單點重複精度:0.055mm;體積精度:0.058--0.085mm;x、y、z 軸的解析度: 0.1 mm;測量模式:靜態和動態;點雲無分層,掃描...