光學測量系統高精度三維雷射掃瞄器是一種用於機械工程領域的分析儀器，於2018年6月15日啟用。
基本介紹
- 中文名：光學測量系統高精度三維雷射掃瞄器
- 產地：中國
- 學科領域：機械工程
- 啟用日期：2018年6月15日
- 所屬類別：分析儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
單點重複精度:0.055mm；體積精度:0.058--0.085mm；x、y、z 軸的解析度: 0.1 mm；測量模式:靜態和動態；點雲無分層，掃描結果能直接生成STL三角格線面；一個位置：7.8立方米，在一個位置，可測量約3m x 2m x 2m的體積的物體，可拓展到10米大小；雷射截面積：210 毫米 x 210 毫米；雷射等級：I級，人眼安全級；掃瞄器操作控制界面: 中文作業系統，可實時線上顯示掃描數據；主機重量：≤5.5KG；數據存儲: ≥32GB，內置硬碟、SD、SDHC、SDXC、USB存儲器等。
主要功能
農作物植株三維結構掃描機參數反演。對機械零部件三維形體和幾何元素進行檢測(如形位公差，尺寸等)，機械零部件結構比較複雜、曲面和幾何元素多樣，需要對掃瞄器進行移動或者旋轉才能完成對整個部件的精確測量，要求三維雷射掃瞄器環境干擾小，能夠實現靜態和動態的精確測量；同時機械裝備中對尺寸和精度的要求較高，尺寸的解析度不低於0.05mm，三維掃瞄器能夠達到0.05mm的精度要求。
