三維雷射掃瞄器系統

三維雷射掃瞄器系統是一種用於物理學領域的電子測量儀器，於2015年12月23日啟用。

基本介紹

• 中文名：三維雷射掃瞄器系統
• 產地：瑞士
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2015年12月23日
• 所屬類別：電子測量儀器

技術指標

掃描模式：測距式 掃描波長：532 nm 垂直最大掃描範圍：270° 水平掃描範圍：360° 掃描距離：600米 最小掃描距離：0.1米 整體重量：13kg 整合相機能輸出真彩色照片，像素1200萬 。

主要功能

現場快速三維建模。