LDI超高精度三維雷射掃描系統是一種用於物理學領域的計量儀器，於2011年7月1日啟用。
基本介紹
- 中文名：LDI超高精度三維雷射掃描系統
- 產地：美國
- 學科領域：物理學
- 啟用日期：2011年7月1日
- 所屬類別：計量儀器 > 長度計量儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
測量範圍XYZ：700x1000x600mm 觸發測量誤差: 2.5+L/333μm 雷射掃描誤差: 0.01mm。
主要功能
採用Surveyor-ZS雷射掃描系統完成對產品樣件的高精度、高密度、高速度測量 在點雲檢測軟體中完成： 點雲數據與原始三維CAD數據的最佳匹配 樣件尺寸與CAD理論值的誤差計算 可以在任意方向取截面以檢查誤差情況 完成可讀性非常好的檢測報告（彩色公差圖顯示） 該系統是目前市場上速度最快的樣件檢測工具。
