surphaser

北京未來星空科技發展有限公司是專注於中國三維雷射掃描技術推廣和測繪解決方案提供的企業·公司總部在北京·公司業務涵蓋工業測量，文物遺產保護，工程測繪，三維數位化等套用領域，不但為相關領域提供最先進的軟硬體產品，同時可為解決相關技術問題提供優質的服務·公司與國家文物局，國家機械工業委員會，中國科學院，清華大學等全國眾多科研單位和高等院校有廣泛的科研及套用合作·2009年起，與美國BASIS公司合作，成為Surphaser三維雷射掃瞄器產品的中國區總代理·2010年，與澳大利亞Maptek公司合作，成為I-site三維雷射掃瞄器產品中國區總代理·

基本介紹

• 外文名：surphaser
• 最高掃描速度： 120萬點每秒
• 高精度： 0.3毫米精度
• 掃描品質： 0.07毫米噪音

Surphaser 25HSX 三維雷射掃瞄器

Surphaser 三維雷射掃瞄器是按照美國軍方標準嚴格設計和生產的測繪產品,廣泛用於工業測量、考古和文物保護、工程測繪和科學研究,從帕特農神廟的數位化保護到NASA空間站及飛行器的測量，Surphaser 充分體現了快速、高精度的特點，是最新三維雷射測量技術的體現.

◆ 最高掃描速度（120萬點每秒）與高精度（0.3毫米精度）和優秀的掃描品質（0.07毫米噪音）的結合

◆ 涵蓋從0.2米到140米的掃描範圍

◆ 超低噪音數據和亞毫米的精度

◆ 高掃描密度，質量相當於100M像素數碼照片

◆ 防塵防水設計，可輕鬆工作在室內或室外環境

◆ 高質量、精確的掃描數據可以導出為多種格式，用於常用點雲後處理軟體（Polyworks,Realworks Survey,Leica Cyclone,Geomagic等）

◆輕巧便攜-可輕鬆放入飛行便攜箱中隨身攜帶

軟體系統

SurphExpressStandard軟體

SurphExpressStandard是Surphaser三維雷射掃瞄器的專有平台,可以對掃瞄器進行實時控制.

◆ 對掃瞄器硬體自診斷和自動校正

◆ 對掃瞄器實時控制

◆ 進行原始數據的採集和實時壓縮

◆ 實時數據分析和掃描質量控制

◆ 快速度預覽掃描

◆ 用戶可自由設定掃描區域以提高工作效率

◆ 多種掃描模式及掃描密度的設計可以勝任更多的掃描項目

◆ 掃描完成數據可以導出多種格式,方便用戶導入適合自己的軟體進行後期處理.

◆ 獨有的視圖視窗可以對掃描的數據以二維和三維的方式進行查看.

◆ 平台自帶的數據過濾器可以過孤立有用數據去除不可靠數據,以保證數據的可靠性.

Surphaser25HSX系列配置選項

配置	SR	IR_X	MR_X	ER_XQ	ER_XS
可掃描半徑（米）	46	46	46	70	140
可靠掃描半徑（米）	0.2-5	0.4-19	1-30	1.5-50	1-70
數據噪音指標（mm@m）	0.07@2m	0.12@3m	0.25@5m	0.35@8m	0.8@8m
距離精度指標（mm@m）	<0.3@3m	<0.5@5m	<0.7@15m	<1@15m	<1@15m

套用領域

Surphaser三維雷射掃瞄器是新一代測繪產品,掃描速度為120W點每秒,是全球掃描速度最快的三維雷射掃瞄器.

工業設計與製造

三維雷射掃瞄器不但可以為工業逆向建模提供幫助,同時可以取代傳統的方式進行工業零部件的外形檢測.採用三維雷射掃描技術可大大縮短產品設計和生產周期,提高產品質量,降低成本.

◆ 工業逆向建模

◆ 零部件外形檢測

◆ 裝配和搭接控制

文物遺產保護和考古

從更完整的角度記錄和分析文物遺蹟,直觀全面記錄考古過程,三維雷射掃瞄器可以為文物保護帶來全新的視角和方法.

◆ 快速、高精度、非接觸測圖

◆ 數位化記錄和保存

工程測繪

從地形測量、採礦測量、地質研究到建築、橋樑、鐵路、隧道、港口等工程,三維雷射掃描技術作為全新的技術手段使工作更簡潔,數據結果更準確.

◆ 土石方測量◆ 改擴建測圖

◆ 工程質量檢測

娛樂和三維數位化套用

對於數位化模型的建立過程,三維雷射掃描技術提供了一種更快速、準確的方法.可用於電影、遊戲、藝術品的製作,虛擬現實和三維地理信息系統的數據構建.

◆ 藝術品複製

◆ 快速數位化建模

科學研究

三維雷射掃描技術適用於所有對結果要求較高的結構複雜對象的測繪,能完成全面、快速、準確的測量,結果直觀.可用於樹木、地表、不規則研究對象的全面測繪.

◆ 森林覆蓋和樹木財積量分析

◆ 樹木等自然構造的形狀分析

◆ 形體變形監測

Surphaser25HSX性能參數

基本參數
掃瞄器類型	360° x 270°視場角全景相位掃瞄器
系統性能
測距方式	相位式
雷射波長	685nm（紅色）
雷射類型	CW
雷射功率	15mW
雷射等級	3R(IEC EN60825-1:2007)
掃描速度（點/秒）	216,000 至 1,200,000
測距解析度	0.001mm
角度解析度	1秒
掃描密度控制(軟體可設定)
最低垂直點密度(點/度)	20
最低水平點密度(點/度)	10
最高垂直點密度(點/度)	92
最高水平點密度(點/度)	180
掃描時間(在7200 X 7200掃描密度下)	4.5分鐘
視場角
最大水平視場角	360°
最大垂直視場角	270°
物理特性
重量(kg)	11
尺寸(LxWxH)	425mmX164mmX237mm