三維光學掃描測量系統

三維光學掃描測量系統是一種用於機械工程、交通運輸工程領域的分析儀器，於2015年01月05日啟用。

基本介紹

• 中文名：三維光學掃描測量系統
• 產地：中國
• 學科領域：機械工程、交通運輸工程
• 啟用日期：2015年01月05日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器

技術指標

測量速率205,000次測量/秒、掃描區域225毫米*250毫米、尺寸122*77*294毫米、光源3束交叉雷射線、部件尺寸範圍（建議）0.1–4米、操作溫度範圍0-40°C。

主要功能

無需外部定位系統，也無需使用測量臂、三角架或夾具快速掃描、能夠將可用掃描檔案導入至RE/CAD軟體，無需進行後期處理。