三維雷射掃描測繪系統

三維雷射掃描測繪系統是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的計量儀器，於2010年08月05日啟用。

基本介紹

• 中文名：三維雷射掃描測繪系統
• 產地：加拿大
• 學科領域：工程與技術科學基礎學科
• 啟用日期：2010年08月05日
• 所屬類別：計量儀器 > 長度計量儀器

技術指標

最短測距範圍：3m：最大測程：1500m：模型化精度3mm：定值精度8mm。

主要功能

大長度、長距離以及三維位置的精密測量、測繪。