高精度白光三維掃瞄器

高精度白光三維掃瞄器是一種用於信息科學與系統科學、化學、土木建築工程、考古學領域的分析儀器，於2015年9月23日啟用。

基本介紹

• 中文名：高精度白光三維掃瞄器
• 產地：美國
• 學科領域：信息科學與系統科學、化學、土木建築工程、考古學
• 啟用日期：2015年9月23日
• 所屬類別：分析儀器

技術指標

1.掃描主機：採用非接觸式光學掃描檢測。可獲取被測複雜外形的外表面全部尺寸信息。電源： AC 110 / 230 Volt, 50 – 60 Hz。★2. 掃描鏡頭：視場範圍[mm]： M-200 掃描範圍[mm]≥170 x 140 景深[mm]≥100 x, y 方向解析度[μm]≤70 Z方向極值 [μm]≥4 噪音(z) [μm]：± 8 特徵精度 [μm]：± 17★3. 圖像感測器：彩色 CCD相機4. 相機數據線：1394B（FireWire? B）。

主要功能

教學科研。