光學三維應測量系統

光學三維應測量系統是一種用於材料科學領域的物理性能測試儀器，於2013年07月07日啟用。

基本介紹

• 中文名：光學三維應測量系統
• 產地：德國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2013年07月07日
• 所屬類別：物理性能測試儀器

技術指標

自由調節應變測量範圍，高精度（最高可達0.01%）大位移大應變測量（＞＞100%）。

主要功能

對材料的力學性能進行測試，可進行三維實時測試，對零件進行測試盒分析，同事還可與有限元分析結果進行對比達到驗證和最佳化。