結構三維變形場光學測量系統是一種用於力學領域的物理性能測試儀器,於2016年10月24日啟用。
基本介紹
- 中文名:結構三維變形場光學測量系統
- 產地:比利時
- 學科領域:力學
- 啟用日期:2016年10月24日
- 所屬類別:物理性能測試儀器 > 力學性能測試儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
2452*2056*6 @15fps/4GCPU/16G/2T256G/23。
主要功能
結構三維變形測量。
結構三維變形場光學測量系統是一種用於力學領域的物理性能測試儀器,於2016年10月24日啟用。
結構三維變形場光學測量系統是一種用於力學領域的物理性能測試儀器,於2016年10月24日啟用。技術指標2452*2056*6 @15fps/4GCPU/16G/2T256G/23。1主要功能結構三維變形測量。1...
DIC-3D系統利用數字圖像處理基本原理,通過數字鏡頭採集圖像,拍攝試件變形前後表面形貌特徵,識別被測物體表面結構,然後通過三維重建以及數字圖像相關性運算得出圖像各像素的對應坐標。本系統適用於各種材料及試件的力學性能測試,包括試件...
三維微結構測量系統是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的電子測量儀器,於2012年5月25日啟用。技術指標 技術指標:解析度:X、Y方向0.1nm,Z方向0.03nm 最大掃描範圍:90um×90um 樣品尺寸:最大210mm×210mm Rq<0.03nm X...