高精度局域光學三維測量系統是一種用於材料科學領域的科學儀器,於2011年10月26日啟用。
基本介紹
- 中文名:高精度局域光學三維測量系統
- 產地:中國
- 學科領域:材料科學
- 啟用日期:2011年10月26日
高精度局域光學三維測量系統是一種用於材料科學領域的科學儀器,於2011年10月26日啟用。
高精度局域光學三維測量系統是一種用於材料科學領域的科學儀器,於2011年10月26日啟用。技術指標測量空間:大於20m×20m×20m;測量精度:小於±0.3mm。1主要功能使用基於數字光學投影的近距離結構光測量系統作為...
三維光學測量系統是採用光束進行測量的系統,具有非接觸式的優點。這種系統也稱三維藍光掃瞄器,根據感測方法不同,分三維藍光掃瞄器,雷射三維掃瞄器,和CT斷層掃瞄器等。產品簡介 測量費用適中;探頭不易磨損。測量速度快;適用於待測物體...
光學三維應測量系統是一種用於材料科學領域的物理性能測試儀器,於2013年07月07日啟用。技術指標 自由調節應變測量範圍,高精度(最高可達0.01%)大位移大應變測量(>>100%)。主要功能 對材料的力學性能進行測試,可進行三維實時測試...
光學測量系統高精度三維雷射掃瞄器是一種用於機械工程領域的分析儀器,於2018年6月15日啟用。技術指標 單點重複精度:0.055mm;體積精度:0.058--0.085mm;x、y、z 軸的解析度: 0.1 mm;測量模式:靜態和動態;點雲無分層,掃描...
IDP 三維系統 三維光學攝影測量系統 基本介紹 工業測量系統(Portable 3D Industrial Measurement Systems)。用普通高解析度單眼相機(非量測相機),通過多幅二維照片,計算工件表面關鍵點三維坐標,採用編碼點技術實現自動化測量。用於對中型...
(模具,螺絲,金屬,配件,橡膠,PCB板,彈簧,五金,電子,塑膠、航空、航天等)它克服了傳統投影儀和二維影像測量的不足,是集光學、機械、電子、計算機圖像處理技術於一體的高精度、高效率、高可靠性的測量儀器。由光學放大系統對被測...
IOM三維光學密集點雲測量系統是智泰生產的一款產品,它與傳統的三坐標測量儀和雷射三維掃瞄器相比,是一種高速高精度的三維掃描測量設 系統介紹 產系統具有速度快、精度高、易操作、可移動等特點,系統的軟體和硬體可以根據需要專門進行開發...
光學三維密集點雲測量系統 XJTUOM三維光學面掃描系統已更名為XTOM-MATRIX三維掃瞄器。XJTUOM型光學三維密集點雲測量系統與傳統的三坐標測量儀和雷射三維掃瞄器相比,是一種高速高精度的三維掃描測量設備,系統具有速度快、精度高、易操作、...
PMLAB DIC-3D是中國科學技術大學與東南大學共同開發的非接觸式三維應變光學測量系統。系統採用非接觸式光學測量方法,可準確測量物體的空間三維坐標,以及在和作用下的位移及應變等數據。系統介紹 DIC-3D系統是非接觸式的光學三維應變測量...
ISO小型三維光學面掃描系統,是在IOM型移動攜帶型光學面掃描系統的基礎上研製,專門針對小型工件的逆向掃描和三維全尺寸快速檢測。產品特點 1、採用獨有的工業攝影測量核心技術和高精度相機標定技術。針對小型工件的逆向掃描和三維全尺寸快速...
3、高精度測量,點雲間距為:0.025mm、0.05mm、0.1mm、0.15mm,曲面擬合精度更高。4、採用LED光源,光源發熱小,壽命長(2萬小時),可以長時間連續工作。小型三維光學檢測系統 5、採用全電動操作台設計:電動升降立柱、多軸運動台...
攜帶型光學三維動態跟蹤與振動測量系統是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器,於2016年10月17日啟用。技術指標 紅外線非接觸式測量;3個CCD光學定位系統;三維/六維自由度高精度測量;最大測量空間不小於30 m3;最大測量距離不小於6m...
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三維雷射掃描技術能夠提供掃描物體表面的三維點雲數據,因此可以用於獲取高精度高解析度的數字地形模型。產生背景 三維雷射掃描技術是上世紀九十年代中期開始出現的一項技術,是繼GPS空間定位系統之後又一項測繪技術新突破。它通過高速雷射掃描...
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