三維雷射跟蹤測量系統

三維雷射跟蹤測量系統是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的計量儀器，於2007年12月27日啟用。

基本介紹

• 中文名：三維雷射跟蹤測量系統
• 產地：新加坡
• 學科領域：工程與技術科學基礎學科
• 啟用日期：2007年12月27日
• 所屬類別：計量儀器 > 長度計量儀器 > 雷射跟蹤儀

技術指標

測量範圍35m，精度5微米+8/ppm。

主要功能

大尺寸幾何量測量，點、線、面、圓。